根据单个均值检验第二类错误成因及计算.pdfVIP

期末研究学习论文 基于单个均值检验 的第Ⅱ类错误成因及计算 姓名 教师 时间 2013.12 基于单个均值检验 的第Ⅱ类错误成因及计算 摘要 在统计假设检验中,不可避免会遭遇两种类型的错误:第Ⅰ类错误（拒真错误）与第Ⅱ 类错误（纳伪错误）。可以认为，第一类错误由检验中的实际推断原理引起，第二类错 误由检验中的逻辑谬误引起。第一类错误出现的概率为显著性水平 ，即小概率事件发 生的概率。第二类错误的计算方法是阐述的重点，也是在解决这一问题上与目前的方法 不一致的地方。本文基于对单个均值的检验，着重分析了第Ⅱ类错误的成因、能否计算 及如何计算。 本文发现，犯第Ⅰ类错误的概率为 , 是可以控制的；而另一方面，由于H 0 非真状 态不唯一，真实分布的未知， 的数值通常是不可控制。  n  一般地， 的数值也与显著性水平 ，样本容量 ，真实参数 的值有密切关系。 特别地， 的数值随着真实  1 和原假设中0 的偏离程度而变化，  0  1 越小， 犯第Ⅱ类错误 的值会显著增大。 本文倾向于认为 的数值在实际情况中是不能计算的。事实上，当且仅当真实 已知， s 才能计算得到 的精确值，这与样本方差 是否看作一个统计量相关性不大（这种情况 t  可用 检验解决）。而在这种情况下， 已然是个已知数，那么也无从谈起进行假设检 验。 S 对于将 作为一个统计量，我们得到了其分布，可求得其方差为（c 为修偏系数） n 2  1  DS    1 2  c  n  n   DS  0 s S 当 时，随着修偏系数c  1， ，用样本数据 代替 误差将越来越小 n 关键词：假设检验，第Ⅱ类错误，修偏系数，成因，计算 I 目录 II 一、问题重述 考虑方差末知时正态总体X ~ N ( , 2 ) 的假设检验 H :   ,H :   (  ) 0 0 1 1 0 若检验的显著水平为 ，易知其拒绝域为 X    X 0   0  t1 (n  1)  S / n  显然，拒绝域所犯第 I 类错误的概率为 。若考虑第Ⅱ类错误，则由基本公式 X  