原子力显微镜原理与应用.pptVIP

AFM的工作原理和 应用 姓名:赵慧旭 学号:2120110242 5↑2 铂悦(上海)有限公司 Multimode 生物型原子力显微镜 ·工作原理及仪器结构 操作模式 常见问题 应用举例 、AFM的基本原理: 将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定 另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻 接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存 在极微弱的作用力,通过在扫描时控制这种力 的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样 品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品 的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道 电流检测法,可测得微悬臂对应于扫描各点的 位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息 探针 品 计算机系统 AFM原理图 以激光检测原子力显微镜AFM为例,来详细说 明其工作原理 二极管激光器发出的激光束经过光学系统聚焦在 微悬臂背面,并从徵悬臂背面反射到由光电二极管构 成的光斑位置检测器。在样品扫描时,由于样品表面 检溴器 的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力,微 悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏,反射光束也将随 之偏移,因而,通过光电二极管检测光斑位置的变化, 就能获得被测样品表面形貌的信息。 微悬臂 在系统检测成像全过程中,探针和被测样品间的 距离始终保持在纳米量级,距离太大不能获得样品表 面的信息,距离太小会损伤探针和被测样品。反馈回 路在工作过程中,由探针得到探针样品相互作用的强 度,来改变加在样品扫描器的伸缩,调节探针和被测 样品间的距离,反过来控制探针样品相互作用的强度 实现反馈控制。反馈控制是本系统的核心工作机制。 原子力显微镜与扫描隧道显微镜最 大的差别在于并非利用电子隧道效 斥部分 应,而是利用原子之间的范德华力 作用来呈现样品的表面特性 r=,l6 假设两个原子中,一个是在悬臂的 探针尖端,另一个是在样本的表面, 它们之间的作用力会随距离的改变 吸引部分 而变化,其作用力与距离的关系如 非接触 当原子与原子很接近时,彼此电子 云斥力的作用大于原子核与电子云 之间的吸引力作用,所以整个合力 原于 原子 排斥力 吸引力 表现为斥力的作用,反之若两原子 原子 分开有一定距离时,其电子云斥力 原子 的作用小于彼此原子核与电子云之 间的吸引力作用,故整个合力表现 原子之间的交互作用力 为引力的作用 操作模式 原子力显微镜的系统中,是利用微小探针与待测物 之间交互作用力,来呈现待测物的表面之物理特性。原 字力喜微镜利用斥力与吸引力的方式发展出三种基本的 操 (1)利用原子斥力的变化而产生表面轮廓为接触式原 力显微镜( contact AFM),探针与试片的距离约几 (2)利用原子吸引力的变化而产生表面轮廊为非接触 式原子力显微镜( non-contact AFM),探针与试片的距 离约几十到几百个A (3)敲击式AFM与非接触式AM比较相似,但它比非 接触式AFM有更近的样晶与针尖距离,种恒定的驱动 力使探针悬臂以一定的频率振动(一般为几百千赫兹)。 三种模式的比较: 接触模式( Contact Mode): 鳘旁向圭糟茭化硬釋办得时适滑接維图籍成,垂 缺点:横向力影响图像质量。在空气中,因为样品表面吸附液层的毛 细作用,使针尖与样品之间的粘着 释像律 袋癍东数裢幕南的贪在物 非接触模式(Non- Contact mode): 优点:没有刮擦作用于样品表面。 霉针胺尖什忿蔑低g發者瘘触免繪踏罪 嫠樵栾鹞拌瘭释黜液圍芋遠缺無果辏触釴裔獲角婆蜀限爾 轻敲模式( Tapping Mode): 点:.很好的消除了横向力的影响。降低 力,图 像分辨率高,這 观测软、易碎、或胶粘 默层拐毀 表面 缺点:比接触模式AFM的扫描速度慢 ·实际工作情况: 实际的AFM工作时并没有让探针保持在同一高度。因为如果样品表面太凹, 探针离样品表面太远,原子间作用力就太微弱;而如果样品面太凸,探针离 样品表面太近,探针就要划破样品。 实际选择的方案是,让探针随凹凸不平的样品表面上下移动,始终保持 固定的距离,即保持原子力的大小不变。在样品表面凹的地方,原子力小 了,探针就下来一点,而在样品表面凸的地方,原子力大了点,探针上去一 点。探针这样一上一下的移动其实也描绘了样品表面的大致轮廓。 AFM利用了范德华力在小范围内可以看成与距离成正比这一特点来工作 的。因为只有成正比,任何部分按同一比例放大,样品的面目才不会失真 至于选择在范德华力的哪一范围工作,这倒不是原则性问题。实际应用中, 根据不同的需要,原子力显微镜可以选择在斥力范围工作,也可以选择在吸 引力范围工作