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- 2020-09-12 发布于天津
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准备—— N 型 FZSi,电阻率约为 2.5 Ωcm 。制作前进行了双面抛光, 并在 0.55%
的 HF 酸溶液中浸泡,去除金属颗粒等杂质
+
B 掺杂——背面( BS)外延 B 掺杂,形成 P ,制作发射极
掩模 1—— PECVD 沉积氮化硅,厚度约 200nm ,作为后道工艺的掩模
酸洗 1——利用去除未经曝光的光刻胶,漏出需要做 BSF 的区域,并且用
BHF (buffered hydro ?uoric )去除需要做 BSF 区域的氮化硅
刻蚀 1——利用 HF 和 HNO 3 去除 BSF 区域的 Emitter 。利用 Si 的各向异性和
氮化硅的各项同性差异可以在相同时间内做到 Si 和氮化硅的差异性刻蚀,
Si 被 腐 蚀 的 速 度 大 于 氮 化 硅 , 从 而 做 出 氮 化 硅 悬 臂
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