训练人工智能估测存储装置的使用寿命的方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 111427713 A (43)申请公布日 2020.07.17 (21)申请号 201910022526.2 (22)申请日 2019.01.10 (71)申请人 深圳衡宇芯片科技有限公司 地址 518000 广东省深圳市南山区学府路 263号大新时代大厦A座1106 (72)发明人 彭祥恩　吴昇翰　 (74)专利代理机构 北京律和信知识产权代理事 务所(普通合伙) 11446 代理人 武玉琴　冷文燕 (51)Int.Cl. G06F 11/00(2006.01) 权利要求书3页 说明书12页 附图8页 (54)发明名称 训练人工智能估测存储装置的使用寿命的 方法 (57)摘要 本发明提供一种训练人工智能估测存储装 置的使用寿命的方法，包含：判断存储装置对多 个位元值执行处理程序的运作参数是否小于运 作临界参数值，若是，利用译码器译码存储装置 所存储的位元值；判断译码器是否成功译码存储 装置所存储的位元值，若是，分类存储装置的存 储单元属于强正确区、弱正确区、强错误区或弱 错误区；判断存储单元数量是否介于数量允许范 围内，若否，启动人工智能类神经网络系统，使用 机器学习估测存储装置的使用寿命时间。 A 3 1 7 7 2 4 1 1 1 N C CN 111427713 A 权　利　要　求　书 1/3页 1.一种训练人工智能估测存储装置的使用寿命的方法，其特征在于，适用于存储装置， 所述存储装置包含多个存储单元，所述训练人工智能估测存储装置的使用寿命的方法包含 以下步骤： (a)利用所述存储装置对一或多个位元值执行数据位处理程序； (b)计算所述存储装置对所述多个位元值执行所述数据位处理程序的运作参数； (c)判断所述运作参数是否小于第一运作临界参数值，若是，执行步骤(a)，若否，执行 下一步骤(d)； (d)利用译码器译码所述存储装置所存储的各所述位元值； (e)判断所述译码器是否成功译码所述存储装置所存储的所述多个位元值，若是，执行 步骤(a)，若否，执行下一步骤(f)； (f)定义多个存储状态区域，所述多个存储状态区域包含强正确区、弱正确区、强错误 区以及弱错误区； (g)依据各所述存储单元的存储状态，分类各所述存储单元属于所述强正确区、所述弱 正确区、所述强错误区或所述弱错误区； (h)计算分类在所述存储状态区域的所述多个存储单元的存储单元数量； (i)判断所述存储单元数量是否介于第一数量允许范围内，若是，执行步骤(a)，若否， 执行下一步骤(j)； (j)启动人工智能类神经网络系统，使用机器学习分析所述运作参数是否小于第二运 作临界参数值、所述译码器是否成功译码所述存储装置所存储的所述多个位元值并且所述 存储单元数量是否介于第二数量允许范围内，若是，执行步骤(a)，若否，估测所述存储装置 的使用寿命时间。 2.根据权利要求1所述的训练人工智能估测存储装置的使用寿命的方法，其特征在于， 所述训练人工智能估测存储装置的使用寿命的方法还包含以下步骤： (k)计数所述存储装置读写所述多个位元值的读写次数； (l)比对所述读写次数是否小于读写次数临界值，若是，执行步骤(a)，若否，执行下一 步骤(m)； (m)计数所述存储装置擦除所述多个位元值的擦除次数； (n)比对所述擦除次数是否小于擦除次数临界值，若是，执行步骤(a)，若否，执行下一 步骤(o)； (o)计数所述存储