原创力文档- 1、本文档共8页，其中可免费阅读3页，需付费100金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
查看更多
南京大学现代分析中心仪器设备一览表更新联系电话仪器名称型号制造厂商主要技术指标主要用途购置日期校内收费备注扫描电子显微镜日本日立公司放大倍数万倍二次电子分辨率在下真空模式背散射电子分辨率在下低真空模式形貌观察成份分析形貌或兀素成份元个透射电子显微镜日本公司点分辨率晶格分辨率放大倍数样品台侧插式可对固体的内部微结构和电子衍射进行分析主要用于金属纳米材料生物矿物样品的研究常规元个高分辨测试元个射线衍射仪瑞士公司输出功率测角范围测角准确性测角重复性测角复现性分辨率半高宽晶体结构分析物相鉴定物相定性定量
南京大学现代分析中心仪器设备一览表（更新）
联系电话：025—仪器名称
型号
制造厂商
主要技术指标
主要用途
购置
日期
校内收费
备 注
扫描电子显微镜
（SEM）
S-3400N II
日本 日立公司
放大倍数：5~30万倍；
二次电子分辨率： 3 nm在30 kV 下（咼真空模式）；
背散射电子分辨率：4 nm在30 kV下（低真空模式）
形貌观察 成份分析
2008.5
形貌或兀素成 份：100元/个
透射电子显微镜
（TEM）
JEM-2100 (HR)
日本
JEOL公司
点分辨率：0.23 nm 晶格分辨率：0.14 nm 放大倍数：50 — 1500000
文档评论（0）