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【NI 教程】测试系统的不二之选：系统源测量单元 (SMU) 目录 1. 基于 NI SourceAdapt 技术的 NI PXIe -4139 系统源测量单元 2. NI PXIe -4139 技术细节 3. 应用示例 —— DC -DC 转换器测试 4. 应用示例 —— LED 特性描述 5. SMU 助力您的下一个测试系统 1. 基于 NI SourceAdapt 技术的 NI PXIe-4139 系统源测量单元 源测量单元 (SMU) 是一种精密测量仪器，可同时对同一通道的电流和电压进行同步源测量。该功能使得源 测量单元成为从精准直流电源到记述分立元件或集成电路等半导体组件的特性等各种应用的理想之选。 某些源测量单元针对特定的应用或者需求作了优化，例如泄露测试、大功率 IV 扫描、为具有快速瞬态响应 的移动设备供电。这些仪器完美地提供了某一特定的功能，但是您可能需要多个这样的源测量单元来完全 记述需要各种不同激励或功能的设备的特性。 或者，您也可以选择系统源测量单元， 它将高功率、 高精度、 高速源测量功能集成到单个仪器上，使您能够执行各种不同的功能以及通过同一接口进行各种不同的设备 测试。这不仅简化了连接，而且减少了使用仪器的种类和数量，降低了测试系统的占地空间和总体成本。 NI PXIe-4139 将传统的箱式源测量单元的高功率和精确度以及 NI 技术集于一身，具有更快速、更灵 活、更小巧的特性。这种结合使得 NI PXIe-4139 不仅能够实现传统源测量单元之外的功能，而且变成一款 多功能的仪器，可用作为： ? 精准电源 ? 快速瞬变电源 ? 电压表、电流表或欧姆表 ? 隔离高压 / 电流数字化仪 ? 高电压 / 电流序列发生器 ? 脉冲发生器 ? 可编程负载 ? 低频交流阻抗计 将多种功能集成到单个仪器使得 NI PXIe-4139 成为测试各种不同设备的理想之选， 这些设备可能包含以下 需求： ? 高功率输入输出，同时具有高速采样功能，例如电源管理集成电路 (PMIC) ? 高速瞬态响应，例如射频电源放大器 ? 精准测量及大功率脉冲扫频，例如功率晶体管和高亮度 LED ? 通过同一接口进行精准 IV 和低频电容测量，例如微型机电系统设备 (MEM) 由于 NI PXIe-4139 的模块化特性和紧凑的尺寸， 您可以将几个源测量通道集成到混合信号自动化测试应用 中，或者借助单个 4U PXI 机箱中的 17 个源测量单元通道来搭建高密度半导体测试系统。 2. NI PXIe-4139 技术细节 NI PXIe-4139 所具有的宽功率范围、 高测量精度可以满足大部分直流测试需求。 此外，NI-PXIe-4139 扩展 了传统源测量单元的功能， 实现了快速采样、 快速更新以及基于 NI 技术的源测量单元响应自定义化。这使 得源测量单元能够用于各种不同的应用，而此前则需要连接各种外部仪器，如示波器、函数发生器或高度 专业化的电源。 规格 特性 更宽范围脉冲 NI PXIe-4139 可以产生高至 500 W 的脉冲，这使您可以快速测试大功率设备的 IV 特性而无需串联多个源 测量单元。 在更宽的脉冲范围下进行测试不仅可以使源测量单元在其常规的 IV 范围之外运行， 而且可以最 小化待测设备 (DUT) 的散热量，减少对热能管理基础设备的需求。 SourceAdapt 技术 NI PXIe-4139 采用了新一代 NI SourceAdapt 技术，使您可以自定义源测量单元的控制循环，从而实现对 任意给定负载的最优响应 —— 即使是高电容或者电感负载。消除过压不仅保护了待测设备，而且也消除了 振荡引发的系统稳定性问题。此外，上升和下降时间的最小化也可帮助您最大程度缩短测试时间。 这个功能对高电容负载特别重要，因为它可以避免损坏待测设备或者仪器。传统的源测量单元使用固定的 模拟控制循环，通过从