UPS功能应用和数据处理 (1).pptxVIP

目录;UPS的基本原理;UPS简介;材料壳层（芯能级）电子的结合能一般在几百eV的量级，所以一般要求我们使用X射线。（XPS） ;材料壳层（芯能级）电子的结合能一般在几百eV的量级，所以一般要求我们使用X射线。（XPS） ;;UPS的工作原理和XPS一样，但是能量远远小于X光，因此有比较好的能量分辨率来研究价带的电子结构，是XPS手段的一个重要补充 XPS探测的是芯能级的电子信息，反映的是对应元素的本征线性，由此来对材料的元素组成，元素价态情况等进行分析。 而UPS探测的是价带电子的结构信息，价带电子在材料中比较巡游，到处运动，反应的是整个材料的关联电子结构。 一般的UPS光源通过对惰性气体放电来实现，He、Ne、Ar、Kr、Xe等，能量一般在几十个eV左右。;氦气放电发射;HeI 的UPS谱;UPS的技术指标;如何测试UPS光斑大小以及所谓“光斑”的定义;如何测试UPS光斑大小以及所谓“光斑”的定义;利用UV灯和X光得到的Ag价态谱比较;标准金样品的UPS谱图分析;苯表面吸附质和纯气/凝聚相的UPS比较;苯表面吸附质和纯气/凝聚相的UPS比较;苯表面吸附质和纯气/凝聚相的UPS比较;苯表面吸附质和纯气/凝聚相的UPS比较;UPS采谱设置与数据处理;程序树;程序树;程序树;在UPS模式下不设置自动高度功能，可以目测光学聚焦或者使用XPS模式进行自动高度;;;UPS的表面敏感性;UPS相比于XPS更加表面敏感 ~10个原子层 ;原始;;;;UPS的表面敏感性——表面C污染信号;UPS的表面敏感性——表面C污染信号;费米边;UPS程序关闭设置;功函数的测定和负偏压设置;功函数;功函数;功函数 ;;偏压设置——集成于Ion Gun设置;;;费米边——加了-10V偏压;计算截止边的小程序;计算截止边的小程序;计算截止边的小程序;;5.55;计算截止边的小程序; Φ = hn– (ECutoff– EFermi) = 21.22-(9.75+6.27)=5.2eV;价带谱分析举例; ;EF; ;EF;EF;EF;样品制备与数据采集 如图，对4个PEDOT样品进行分析。拼盘相机（可选组件）得到的几个样品和金箔样品一起的安装示意图。 PEDOT镀膜以水平带状的结构沉积在玻璃衬底上。 这5个样品的表面通过铜箔导电胶带连接在一起，保证这些样品的上表面电势相等，让我们在UPS实验时标定费米面位置。;随后测量得到几种PEDOT样品的UPS谱。;;;XPS和UPS价带谱;右图所示是4块ZHF样品和金箔一起安装在样品托上，5个样品之间通过导电铜箔胶带连接，以保证之间等电势。 对于其中的一些样品表面有明显的特征，如4、5，因此实验探测时选用的是靠近样品中心的均匀区域。;;;然后可以看到，因为电荷的补偿这些UPS谱看起来都比较正常，有一些特定的能带结构出现。 其中ZHF2样品和之前在未开中和枪情况下得到的几乎完全相同（二次电子截止边表现出一些不同）。 ZHF 4号和5号样品的UPS十分相似，而ZHF 7号样品表现出有一些不同，可能是由于7号样品因为不同的表面污染或者表面改性造成。;而石墨烯富裕的ZHF2号样品和其他样品表现的很不一样，特别是在9-12eV范围，这表明其他样品表面没有明显的石墨烯信号。 这与我们之前的XPS测量符合。;而进一步将ZHF 4号样品的UPS谱和相同条件下测得的PMMA参考价态谱进行比较，可以看到他们的能带结构也十分相似，可以进一步证实该样品表面主要是由PMMA组成。;通过将Au与地线绝缘使其不导电，会因为荷电效应而测不到价带谱结构 通过开启中和枪作荷电补偿，很好的重现了价带谱结构，但是在高结合能，低动能段，有中和电子的干扰 不导电样品能测价带谱结构，但是无法加偏压得到功函数信息;UPS的应用举例——OLED材料的价带能级结构测量; ;Escalab 250Xi Multitechnique REELS 数据;p-bonding;UPS的应用举例——有机太阳能（OSC）电池上的电极材料功函数测定;Yinhua Zhou et al,Science 336, 327 (2012);Yinhua Zhou et al,Science 336, 327 (2012);价带谱分析应用举例——价带谱结构用于分析共混聚合物组成;简介;价带谱分析共混聚合物;;;氩团簇深度剖析共混聚合物 氩团簇剖析 MAGCIS离子源被用来剖析共混聚合物样品 MAGCIS可以产生单原子或者团簇离子束， 易于进行有机和无机混合物的深度剖析 分析表明聚二甲基硅氧烷居于在最表面的16nm深度 深度的尺度通过剖析硅片上80nm的聚乙烯 来标定(使用椭偏光度法来测量) ;价带谱分析共混聚合物;Chemical analysis;Is the