DOS态密度（整理）（一）.pdfVIP

态密度（Density of States，简称DOS） 在 DOS 结果图里可以查看是导体还是绝缘体还是半导体，请问怎么看。理论是什么？或者 哪位老师可以告诉我这方面的知识可以通过学习什么获得。不胜感激。 查看是导体还是绝缘体还是半导体，最好还是用能带图 DOS 的话看费米能级两侧的能量差 谢希德。复旦版的《固体能带论》一书中有，请参阅！另外到网上或者学校的数据库找找“第 一性原理”方面的论文，里面通常会有一些计算分析。 下面有一篇可以下载的： ZnO 的第一性原理计算 hoffman 的《固体与表面》对态密度的理解还是很有好处的。 下面这个是在版里找的，多看看吧： 如何分析第一原理的计算结果 用第一原理计算软件开展的工作，分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨 论： 1、电荷密度图（charge density ）； 2、能带结构（Energy Band Structure ）； 3、态密度（Density of States，简称DOS）。 电荷密度图是以图的形式出现在文章中，非常直观，因此对于一般的入门级研究人员来 讲不会有任何的疑问。唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式，比如差分电荷密图（d ef -ormation charge density ）和二次差分图（difference charge density ）等等，加自旋极 化的工作还可能有自旋极化电荷密度图（spin -polarized charge density ）。所谓“差分”是指 原子组成体系（团簇）之后电荷的重新分布，“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型 改变之后电荷的重新分布，因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情 况。通过电荷聚集（accumulation）/损失（depletion ）的具体空间分布，看成键的极性强 弱；通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道（这个主要是对d 轨道的分析，对于s 或者p 轨道的形状分析我还没有见过）。分析总电荷密度图的方法类似，不过相对而言，这 种图所携带的信息量较小。 1 能带结构分析现在在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。但是因为能带 这个概念本身的抽象性，对于能带的分析是让初学者最感头痛的地方。关于能带理论本身， 我在这篇文章中不想涉及，这里只考虑已得到的能带，如何能从里面看出有用的信息。首先 当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。判断的标准是看费米能级和导带（也即 在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带）是否相交，若相交，则为金属，否则 为半导体或者绝缘体。对于本征半导体，还可以看出是直接能隙还是间接能隙：如果导带的 最低点和价带的最高点在同一个k 点处，则为直接能隙，否则为间接能隙。在具体工作中， 情况要复杂得多，而且各种领域中感兴趣的方面彼此相差很大，分析不可能像上述分析一样 直观和普适。不过仍然可以总结出一些经验性的规律来。主要有以下几点： 1）因为目前的计算大多采用超单胞（supercell ）的形式，在一个单胞里有几十个原子 以及上百个电子，所以得到的能带图往往在远低于费米能级处非常平坦，也非常密集。原则 上讲，这个区域的能带并不具备多大的解说/ 阅读价值。因此，不要被这种现象吓住，一般 的工作中，我们主要关心的还是费米能级附近的能带形状。 2）能带的宽窄在能带的分析中占据很重要的位置。能带越宽，也即在能带图中的起伏 越大，说明处于这个带中的电子有效质量越小、非局域（non-local）的程度越大、组成这条 能带的原子轨道扩展性越强。如果形状近似于抛物线形状，一般而言会被冠以类sp 带（sp -like band）之名。反之，一条比较窄的能带表明对应于这条能带的本征态主要是由局域于 某个格点的原子轨道组成，这条带上的电子局域性非常强，有效质量相对较大。 3）如果体系为掺杂的非本征半导体，注意与本征半导体的能带结构图进行对比，一般 而 言在能隙处会出现一条新的、比较窄的能带。这就是通常所谓的杂质态(doping state) ， 或者按照掺杂半导体的类型称为受主态或者施主态。 4 ）关于自旋极化的能带，一般是画出两幅图：majority spin 和minority spin 。经典的 说，分别代表自旋向上和自旋向下的轨道所组成的能带结构。注意它们在费米能级处的差异。 如果费米能级与majority spin 的能带图相交而处于minority spin 的能隙中，则此体系