插入内部扫描链和测试电路.docVIP

插入内部扫描和测试电路 Tessent Scan操作流程 下图5-1为使用Tessent Scan或者Tessent Shell EDA工具，在dft -scan context中插入扫描和其他测试电路的流程。 下图5-2为使用Tessent Scan综合扫描电路基本流程。 需要一个DFT library和综合后的一个设计门级网表。其中，输入的门级网表可以是一个设计的独立模块，也可以是一个完整的设计。 设置所设计电路的一些信息，即所插入的测试结构。 运行rules checking和testability analysis，debug一些违例。 rules checking成功后，进入一个system mode。此模式中，你可以移去存在的扫描链，然后能设定想插入的扫描链或者其他的测试结构电路。  Tessent Scan工具的输入和输出 下图显示在Tessen Scan中所需要的输入文件和所生成的文件。 Tessent Scan使用以下的输入文件： Design (netlist)：支持Verilog格式的门级网表。 Circuit Setup (Dofile文件)： Library：包含单元库的描述、非扫描单元到扫描单元的映射，添加测试的逻辑电路所选择的部件。EDA工具使用libcomp命令将Foundary Library数据转化成一个flatted，门级仿真模型的DFT Library。 Test Procedure File：定义了ATE仿真中，移入到某条扫描链的扫描数据。这个文件仅仅存在在一个已经存在扫部分扫描链的电路或者要求test setup向量（初始化步骤）的设计中。 Tessent Scan生成以下输出文件： Design (netlist)：在原始网表上插入测试结构，生成一个新的门级网表电路，输出verilog格式。 ATPG Setup (Dofile和Test Procedure File)：工具自动生成ATPG工具所需要的dofile和test procedure两个文件。包含电路的setup information，关于插入的测试结构。启动write_atpg_setup命令后，工具会自动生成3个文件。 Note： procudure文件中的timeplate定义了一个设计中的时钟（包括置位和复位，使用add_clocks命令添加的）和其他扫描链移动操作。 Test Procedure File：使用write_atpg_setup命令后，生成一个有关插入到设计中的扫描电路的test procedure文件。该文件用来接下来的ATPG工具。 Tessent Scan支持的测试结构 scan：将所有能通过扫描检测的时序元素（sequential elements）转变为扫描单元（Scan Cells）。 wrapper chains：将与输入输出pin脚有互通的时序元素连结成扫描链结构。 scan and/or wrapper：将与PI和PO互通的时序单元替换成扫描单元，然后将这些扫描单元连结成wrapper链。工具然后将其他扫描单元连结成独立的，叫做内核链（Core Chain）。 Test Point：在特定的位置插入控制点（Control Points）和观察点（Observe Points）。 启动Tessent Scan %tessent -shell SETUP set_context dft -scan 进入Setup Mode，用来设置电路和扫描数据。 选择扫描方案 使用set_scan_type命令定义扫描架构，包括Mux_scan，Clock_scan，Lssd。 定义扫描单元和扫描输出映射 工具默认使用定义在ATPG library的映射关系，每一个在ATPG library里的扫描模型描述了如何将非扫描模型映射到扫描扫描模型，这些信息定义在“scan_definition”片段。 当然，也可以自己定义映射行为，包括单独的实例，也可以是实例下的子实例。使用set_cell_model_mapping命令。 如果想将设计中所有的fd1的非扫描模型映射到为fd1扫描模型，输入命令： set_cell_model_mapping -new_model fd1s -model fd1 下面例子将fd1非扫描模型映射到fd1s扫描模型，在模块counter中所有的映射。 set_cell_model_mapping -new_model fd1s -model fd1 -module counter 在扫描单元stitching过程中，工具选择fanout最低输出引脚，也可以指定某个特定的引脚，使用set_cell_model_mapping命令，如使用qn代替q作为occurrence