1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 工业设计

【做计算 找华算】XRD analysis on microstructure of thin films 02-德国亚琛工业大学(1).pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约4.45千字
  • 约 2页
  • 2020-11-04 发布于贵州
  • 举报

【做计算 找华算】XRD analysis on microstructure of thin films 02-德国亚琛工业大学(1).pdf

    Thursday meeting, 2008-12-18 8 single line profile analysis reliability: • crystallitesizeof(hlk)column • pretreatmentoftheXRDdata • thepeakshouldhave 2 ωω// ββ(0.64~0.94) 2θ = x ωω// ββ c • randomerorr

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >