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台式偏振X射线荧光光谱仪－SPECTRO XEPOS
德国斯派克分析仪器公司开发出了一种极其成功的技术，把偏振X 射线应用于荧光分析。正如现今在拍摄
高质量图片时偏振滤光片是不可替代的工具一样，这种先进的分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕
量元素不可替代的手段。斯派克分析仪器公司不断发展这一技术，并推出了新一代的仪器—SPECTRO
XEPOS 台式偏振X 射线荧光光谱仪。
扩展的偏振光学系统 （ExtendedPolarization Optical System）首次使用50W 低能量X 射线管发出的原
X Na-U X X
始 射线作为辐射源，用于 元素的同时分析，从 射线发出的原始 射线通过高能量偏振光学系统
进行聚集，得到的完全偏振且部分单色的X 射线可以高灵敏地测定各种元素。这种分析技术在许多应用中
不需要高吸收辐射的滤光片。
SPECTROXEPOS具有广泛的应用领域—从石化、建材、废物处理以及再加工工业到直接产品控制。
SPECTROXEPOS 300 P
油中各种元素的分析便是一例。使用 ，在氮气保护状态下，在 秒钟之内，对于元素 、
S、Cl、Ca、Cu、Zn 和Ba 的检测下限在 1—7ｕg/g。在检出下限以上，测量的重现性RSD≤1％。SPECTRO
XEPOS也适用于耐火材料及陶瓷工业的分析。采用四硼酸锂熔片制样法时，样品中主要成分测量的重现性
RSD＝0.22％。
XEPOS型X 射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，
灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。
东莞广菱仪器有限公司
张涛 (先生) 销售部
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