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ICP-OES常见干扰类型及校正方法探讨
杨开放
【摘要】摘要：电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES )越来越多地应用于 各类物质的分析检测。测定复杂样品时，仪器出现各种干扰问题是影响测定结 果准确性的主要因素。根据仪器原理及样品进入ICP的顺序，对可能出现的化 学干扰、物理干扰、记忆效应、电离干扰和光谱干扰进行原因分析。结合具体 实例探讨各类干扰相应的校正方法，可以较好地消除干扰对测定结果的影响。
［期刊名称］化学分析计量
【年(卷)，期】2016(025)003
【总页数】4
【关键词】电感耦合等离子体发射光谱仪；干扰；校正
【文献来源】 /academic?joumal?c n.chemical?a nalysis- meterage_thesis/0201235180924.html
近几年来,ICP-OES以其卓越的性能被广泛用于无机化学分析中,并且已经扩 展到地质、冶金、农业、医学、化工、环保、食品等各个领域［1-3 ］。
ICPOES具有多元素同时快速分析的特点，尤其定性分析，是其它元素分析仪 器无法比拟的，它已经在化学分析领域中发挥重要的作用。
提高仪器检测灵敏度,达到更低的检出限和实现更好的稳定性是ICP光谱仪器 追求的目标，但是由于自身特点存在的各类干扰制约了上述目标的实现。随看 光谱仪普及和研究的深入，干扰问题已经是ICP分析过程中存在的主要问题之 —。在某些元素分析过程中，由于待测样品基体复杂性和不可知性，产生的各 类干扰会直接影响样品分析结果的准确性。判别干扰类型以及选取解决方案成
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