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半导体制造工艺流程
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半导体相关知识
• 本征材料:纯硅 9-10个9
250000Ω.cm
• N型硅: 掺入V族元素--磷P 、砷As 、锑
Sb
• P型硅: 掺入 III族元素—镓Ga、硼B
• PN结:
- - + +
P - - + N
- - + +
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半 导体元件制造过程可分为
• 前段(Front End)制程
晶圆处理制程(Wafer Fabrication;简称
Wafer Fab)、
晶圆针测制程(Wafer Probe);
• 後段(Back End)
构装(Packaging)、
测试制程(Initial Test and Final Test)
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一、晶圆处理制程
• 晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与
电子元件(如电晶体、电容体、逻辑闸等),为上
述各制程中所需技术最复杂且资金投入最多的过程 ,
以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理
步骤可达数百道,而其所需加工机台先进且昂贵,
动辄数千万一台,其所需制造环境为为一温度、湿
度与 含尘(Particle)均需控制的无尘室(Clean-
Room),虽然详细的处理程序是随著产品种类与所
使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆
先经过适 当的清洗(Cleaning)之後,接著进行氧
化(Oxidation)及沈积,最後进行微影、蚀刻及离
子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制
作。
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二、晶圆针测制程
• 经过Wafer Fab之制程後,晶圆上即形成
一格格的小格 ,我们称之为晶方或是晶粒
(Die),在一般情形下,同一片晶圆上
皆制作相同的晶片,但是也有可能在同一
片晶圆 上制作不同规格的产品;这些晶圆
必须通过晶片允收测试,晶粒将会一一经
过针测(Probe)仪器以测试其电气特性,
而不合格的的晶粒将会被标上记号(Ink
Dot),此程序即 称之为晶圆针测制程
(Wafer Probe)。然後晶圆将依晶粒
为单位分割成一粒粒独立的晶粒
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三、IC构装制程
• IC構裝製程(Packaging):利用塑膠
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