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NSA2860 校准算法说明 1 摘要 图1 为NSA2860 信号示意框图，传感器输出信号经由主信号通道放大并被PADC 量化为24 位 数字输出，温度信号（内部温度传感器或者外部温度传感器）经由辅助温度测量通道放大并被TADC 量化为24 位温度数字输出。这两路数字输出经由内置MCU 校准后作为模拟输出模块的DAC 的输入， 转化模拟电压或电流输出。校准算法预置于MCU 中，相应的校准系数存储在一组64 字节的EEPROM 中。对于电桥输入信号校准可分为ADC 校准 （ADC_CAL ）、传感器校准 （SENSOR_CAL ）、量程比 调节和DAC 校准 （DAC_CAL ），其中ADC 校准部分用于校准模拟输入模块中PADC 输出的零点及 灵敏度和TADC 输出温度数据的零点及灵敏度，传感器校准部分为对传感器的零点、灵敏度、非线性， 以及零点、灵敏度的温度漂移进行调节。量程比调节部分可以方便用户在模块校准完成后修改产品的 量程。DAC 校准部分用于校准模拟输出模块的零点及灵敏度偏差。 VREF MCU ADC_CAL