wi-qc端子类物料检验规范修改.docxVIP

封面 作者： PanHongliang 仅供个人学习 仅供个人学习 .1-2003单次正常 U 级抽样水准， AQL值 CRI=0, MAJ=1.0, MIN=6.5。 0~700 Lux),产品与眼睛相距约30cm,目视时间3~5sec。 程 规格要求 检验方法 抽样 频率 抽样 计划 缺点描述 工程分类 备 CR MA MI 示尺寸 与工程图纸标示尺寸一致 卡尺、千 分尺、钢 直尺等 每批 A 超出标示尺寸公差范围 V 依供应商 批取 每批 A V 伤 凹陷 卡尺、工 具显微镜 或比对板 每批 B 凹陷、压伤过大 V 以实际 同一面压伤不可超过2点，点大小不 得超过中性笔笔尖。两点相距需达 整个端子本体长度的60% 端子表面 可以被塑 以良 单一面压伤点大小不得超过中性笔 笔尖且只允许有一点 损 不允许出现 目视 每批 A 缺角、破损 V 形 不影响制程实际组装或客户使用 目视 每批 A 变形 V 装 同一批含两个或以上规格料号 目视 每批 A 不同型号装在一起 V :混有杂物 披锋 手触不能有明显刮手 目视 每批 A 棱角边缘有毛刺和披锋 V 组装时能被 使用以 镀 氧化/电镀不良、异色 目视 每批 B 电镀不一致、色差严重 V 包括脏污 匹配 与对插件匹配性完好，无松脱 目视 每批 4pcs 不能顺利组装 V 依供应商 批取 测试 于焊锡 子) 245C± 5C时间3秒沾