海底电缆及附件半导电屏蔽电阻率测量方法、绝缘层微孔、杂质和半导电屏蔽层与绝缘层界面微孔、突起试验.pdfVIP

GB/T XXXXX.1—XXXX A A 附 录 A （规范性附录） 半导电屏蔽电阻率测量方法 应从长度150 mm的成品电缆试样上制备每个试件。 应将绝缘线芯试样沿纵向对半切开，除去导体及隔离层（如果有）以制备导体屏蔽试件（见图A.1a）。 应将绝缘线芯外所有包覆层除去以制备绝缘屏蔽试件（见图A.1b）。半导电护套电阻率测试试件的制备 和测量与绝缘屏蔽相同。 屏蔽的体积电阻率的测定步骤应如下： 应将四只涂银电极A、B、C和D（见图A