《耳机通用检验规范(123)》.docxVIP

\ / 微嘉电子(深圳)有限公司 \ Y j Weijia Electronics (Shenzhen) Co.,LTD 文件编号 WJ-QA-SOP-003-01 生效日期 2016年6月1日 贞次 第1页共15页 耳机通用检验规范 版次 第一版 耳机通用检验规范 WJ-COP-003-01 第一版 拟制：王贯宝 审核： 批准： 版本号 更改说明 签名 日期 01 初次拟定 王贯宝 2016年5月30日 核准：陈文盛 审核：2016年6月5日 制定：王贯宝 日期：2016年5月30日 微嘉电子机密，未经许町不得扩散 微嘉电子(深圳)有限公司 \ Y j Weijia Electronics (Shenzhen) Co.,LTD 文件编号 WJ-QA-SOP-003-01 生效日期 2016年6月1日 贞次 第2页共15页 耳机通用检验规范 版次 第一版 1、目的 本指导书旨在描述耳机产品的通用检验标准及产品验收相关要求， 以作为我司及外协厂 检验人员对耳机产品外观验收的依据，确保产品质量达到我司的质量要求。 2、 使用范围 本检验指导书适用于耳机产品的整机外观检验， 对有特殊工艺和特殊要求的产品， 则依 据具体的产品检验指导书检验。 3、 使用指引 如有限度样，检验时优先考虑限度样，限度样包括整机上签署的限度样，以及物料上 签署的限度样” 4、 检验工具 直尺、游标卡尺、塞规、比对片、条码枪、防静电手套或指套、防尘布、酒精、小刀， 封箱胶布、透明胶带、 5、 检验条件 视力：检验员视力要求不低于 1.0（含矫正视力）； 距离：人眼与被测手机表面的距离为 300m成50mm ; 照明：冷白荧光灯（光源在检测者正上方） ，光照度为1000土 200Lux 温度：15-35 C ； 湿度：20%-75%; 检视角度：产品检视面与桌面成 45度角，上下左右各转动 45度（如下图）； 核准：陈文盛 审核：2016年6月5日 制定：王贯宝 日期：2016年5月30日 微嘉电子机密，未经许町不得扩散  \ / 微嘉电子(深圳)有限公司 \ Y j Weijia Electronics (Shenzhen) Co.,LTD 文件编号 WJ-QA-SOP-003-01 生效日期 2016年6月1日 贞次 第3页共15页 耳机通用检验规范 版次 第一版 检视时间：10±5s （单一面），针对外观检验；最长检验时间 15s。在15s检视, 如果缺陷仍不可见，则此检视件可视为合格。 6、耳机抽样计划: 检验项目 抽样计划 允收水准 外观/结构 GB2828.1-2003 正常一次抽样 LEVEL II 致命缺陷(CR): C=0 严重缺陷(MA): AQL=0.65 轻微缺陷(MI) : AQL=1.0 7、术语与定义 7.1缺陷严重程度定义 Defect Classification 缺陷等级定义 CR: Critical Defect 致命缺陷 广■品对人身安全造成伤害或存在安全隐患，对客户财广■构成威胁的 缺陷。 MA: Major Defect 严 重缺陷 广■品存在使用异常的缺陷，主要有以下七种缺陷： 1.功能缺陷影响正常使用。 2.性能参数超出设计规格和国家标准。 3.混料 4.漏元件、配件及主要标识； 核准：陈文盛 审核：2016年6月5日 制定：王贯宝 日期：2016年5月30日 微嘉电子机密，未经许町不得扩散  ( 微嘉电子(深圳)有限公司 \ j Weijia Electronics (Shenzhen) Co^LTD 文件编号 WJ-QA-SOP-003-0 生效日期 2016年6月1日 贞次 第4页共15页 耳机通用检验规范 版次 第一版 5.多出无关标识及其它可能影响产品性能的非关联物品。 6.包装存在可能影响产品形象的缺陷。 7.结构及外观方面让顾客难以接受的严重缺陷。 MI: Minor Defect 次要缺陷除 MI: Minor Defect 次 要缺陷 除CR MA缺陷以外的其它不影响产品使用的缺陷。 Acc: Acceptable Defect可接受缺陷 可以接受的缺陷或无缺陷，出厂检查时供参考。 7.2外观等级面定义 一级面：制品最初就面向使用者的部位（制品的正面、顶面等包括能开合的制品） 二级面：制品在A区后面向使用者的部位（如产品的斜侧面） 三级面:使用者不易看到的制品部位 （制品的背面或底面包括能开合的制品） 说明：整机结构件内表面外观缺陷如不影响产品性能下降和整机组装则不作管控。 若本标准存在任何与工程图有冲突之处，以工程图为准 A级面 C级面B级面 C级面 核准：陈文盛 审核：2016年6月5日 制定：王贯宝 日期：2016年5月30日 微嘉电子机密，未经许町不得扩散 微嘉电子(深圳)有限公司