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SPC作业程序 文件号： -QP-1X 版本号： B/0 编 制： 日期 审 核： 日期 批 准： 日期 受控印讫： 发放 编号 修改记录 修改次数 章节号 修改内容 修改日期 修改人 核准 1 目的 为防止不良品发生，加强过程控制，以及满足顾客要求，特制定本程序。 适用范围 顾客有指定须实施 SPC之过程。 职责 3.1 技术部负责关键产品 / 过程特性进行识别、定义、文件化。 3.2 品质部负责关键产品 / 过程特性进行识别、 SPC的实施、分析及研究。 3.3 生产部门负责负责过程能力不足改善。 程序 4.1 SPC(Statistical Process Control): 为了贯彻预防原则，应用统计技术对过程中的各个阶段进行 评估和监察，从而保证产品与服务满足要求的均匀性，利用数理统计的方法去诊断分析及解决工序中的 变化（ variation ）。 4.2 控制图 (Control Chart) ：是进行工序控制的重要工具，是测试物件特征量值的图形表征，方法是 将指示品质情况的统计指标，在图上用点表示出来，并在图中画出品质管制界限以作比较，如果图上显 示的点不正常，则认为工序处于受控状态。 4.3 CPK：过程能力指数通常定义为 CPU或 CPL中的最小值。 4.4 CPU：过程能力指数上限。 4.5 CPL ：过程能力指数下限。 4.6 新产品开发初期过程能力分析。 4.6.1 新产品开发件用户要求实施 SPC时, 由技术部提出关键产品 / 过程特性，标示在相关文件中。 4.6.2 品保部安排人员根据相关文件实施过程能力分析。 4.6.3 品保部对过程能力 PPK不足 1.67 项目 , 通过下发《 YX-QR-QP-16-001制程异常通知单》，要求 相关单位改善。 4.6.4 相关单位改善过程能力不足项目。 4.7. 量产过程能力分析 4.7.1 由品保部关键产品 / 过程特性进行识别、及选定适合之管制图。 4.7.2 品保部门根据关键产品 / 过程特性实施过程能力分析。 4.7.3 品保部门对过程能力 CPK不足 1.33 项目 , 通过下发《 YX-QR-QP-16-001制程异常通知单》，要求 相关单位改善。 5.3.4 相关单位改善过程能力不足项目。 5.4SPC作业及判定具体依据《统计过程控制（ SPC）参考手册》（ 2005 年 7 月第二版）。 5.5 管制特性及符号 : ▽ 倒三角符号。 相关文件 5.1 《统计过程控制（ SPC）参考手册》（ 2005 年 7 月第二版） 记录表格 6.1 YX-QP-1X-001 Xbar-R 管制图 6.2 YX-QP-1X-001P( 不良率 ) －管制图 6.3 YX-QP-1X-001C（缺陷图）－管制图 6.3 YX-QR-QP-16-001 制程异常通知单 附件一：控制图计算公式 控制图 X-R图 X-S图  计算公式 X=(X 1+X 2+ +X K )/K R=(R 1+R 2+ +R K )/K 中心线： cl=X 管制上限 (ucl)=X+A 2 R 管制下限 (lcl)=X-A 2 R 管制图： 中心线 (cl)=R 管制上线 (ucl)=D 4 R 管制下线 (Lcl)=D 3 R X=(X 1+X 2+ +X K) 2 ∑ (Xi-X) S= n-1 管制图： 中心线 (cl)=X 管制上线 (ucl)=X+A 3 S 管制下线 (Lcl)=X-A 3S S 管制图： k Si 中心线 S= i=1 K 管制上限 (ucl)=B 4S 管制下限 (lcl)=B 3 S  公式说明 ① X 1,X 2, X K 为样本组内平均值 ② X 为总平均值。 A 2 ,D 4 ,D 3控制图系数，见附表。 为样本组数 为组内样本数 为组内样本最大值减去减小值 ①X 1,X 2 , X K为样本组内平均值 ②X为总平均值。 A3 ,B 4 ,D 4 控制图系数，见附表。 K为样本组数 n为组内样本数 ③Si 为组内样本标准差 P= 总不良个数 总检数 P控制界限： 中心线（ cl ） =P P-图 管制上限 =P+3 P(1-P) P为总平均不良率 n P（ 1-P） 管制下限 = P-3 n C1+C2+ ‥‥‥ Ci C= K C控制界限 中心线（ cl ） =C 管制下限（ 1cl ） C为平均缺陷数 C- 控制图 管制上限（ ucl ）