实验二十集成运算放大器指标测试(学生用).docxVIP

实验二十 集成运算放大器指标测试 一、实验目的 l）加深对集成运算放大器特性和参数的理解。 2）学习集成运算放大器主要性能指标的测试方法。 三、实验仪器及设备 （ 1）低频信号发生器 1 台 （ 2）晶体管毫伏表 1 台 （ 3）双踪示波器 1 台 （ 4）双路稳压电源 1 台 （ 5）数字式万用表 l 块 （ 6）微型计算机系统 1 套 二、实验原理 集成运算放大器是一种高增益的直接耦合放大电路，在理想情况下，集成运放的 A ud = ∞、 Ri=∞、 U OS=0、I OS=0、K CMR =∞。但是实际上并不存在理想的集成运算放大器。为了解 实际运放与理想运放的差别， 以便正确使用集成运算放大器， 有必要研究其实际特性， 并对 其主要指标进行测试。 集成运放组件的各项指标通常是由专用仪器进行测试的， 下面介绍的是运放主要指标的简易测试方法。 本实验采用的集成运放为双列直插式组件 μA741（或 LM741 ），引脚排列如图 20－ 1 示，②脚和③脚为反相和同相输入端，⑥脚为输出端，⑦脚和④脚为正、负电源端，①脚和⑤脚 为失调调零端， ①⑤脚之间可接入几十 KΩ 的电位器， 滑动触头接到负电源端， ⑧脚为空脚。 图 20－ 1 μA741管脚图 图 20－2 U 0S、I 0S、 IIB 测试电路 1．集成运放主要指标测试 （ 1） 输入失调电压 U0S 在常温下， 当输入信号为零时， 集成运放的输出电压不为零， 该输出电压称为输出失调电压。 失调电压测试电路如图 20－ 2 所示。闭合开关 K 1 及 K 2，使电阻 RB 短接，测量此时的输出电压 U 01 即为输出失调电压，则输入失调电压 U OS R1 U O1 R1 RF （ 2）输入失调电流 I 0S 在常温下， 当输入信号为零时， 集成运算放大器两个输入端的输入电流之间的差值称为 输入失调电流 I0S，设 I B1 和 I B2 分别是运放同相输入端和反相输入端的输入电流，则输入失 调电流 I0S=│IB1－ IB2│。 输入失调电流的测试电路如图 20－2 所示，电路中 R1= R2， R3=RF，而且两个输入端上 的电阻 RB 必须精确配对才能保证测量精度。测量方法是： ① 闭合开关 K 1 及 K 2，在低输入电阻下，测出输出电压 U01，如前所述，这是由输入失 调电压 U0S 所引起的输出电压。 ② 断开 K 1 及 K 2，两个输入电阻 RB 接入，此时，输出电压 U02 可以看作是由输入失调 电压 U0S 和输入失调电流 I0S 共同引起的。则输入失调电流 I0S 为 R1 1 IOSIB1 IB2 UO2 U01 R1 RF RB （ 3）输入偏置电流 I IB 输入偏置电流是指在常温下， 且输入信号为零时， 集成运算放大器两个输入端输入电流 的平均值，即 I IB 1(IB1 I B 2 ) 。集成运放的 I IB 一般在 10nA ～1μA范围内。 2 20-2 所示。 (电路中的两个开关 K 1 和 K 2 在实验中可利用 输入偏置电流的测试电路如图 导线的接通与否来取代开关 ) 当 K 1 断开、 K 2 闭合时，若测得运放输出电压为 UO3，则 U O3 (1 RF )(U OS I B1RB ) R1 当 K 1 闭合、 K 2 断开时，若测得运放输出电压为 UO4，则 U O 4 (1 RF )(U OS I B2RB ) R1 两式相减，得： U O 3 U O 4 RB (I B1 I B2 )(1 RF ) R1 因此，输入偏置电流为： I IB 1 1 R1 1 (IB1 IB2) (UO3 UO4) R1 RF RB 2 2 4）开环差模放大倍数 Aud 集成运放在没有外部反馈时的直流差模放大倍数称为开环差模电压放大倍数，用 Aud 表示。 Aud 的测试方法很多，一般采用同时引入直流反馈和交流反馈的测试方法，如图 20－ 3 所示。 图 20－3 Aud 测试电路 被测运放的开环电压放大倍数为 Aud U 0 R1 U 0 U id (1 ) R2 U i （ 5）共模抑制比 KCMR 集成运放的差模电压放大倍数 Ad 与共模电压放大倍数 AC 之比称为共模抑制比 K CMR Ad 或 K CMR 20lg Ad (dB) AC AC KCMR 的测试电路如图 20－ 4 所示。 图 20－4 KCMR 测试电路 集成运放工作在闭环状态下的差模电压放大倍数为 RF Ad R1 当接入共模输入信号 Uic 时，测得 U0C，则共模电压放大倍数为 U 0C AC U iC 得共模抑制比 K CMR Ad RF U iC AC R1 U0C （