电子元器件失效分析具体案列.docxVIP

中国赛宝实验室可靠性研究分析中心 案例一： 1 产 品 名 称：单片机 MD87C51/B 2 商标： Intel 3 分 析 依 据： MIL-STD-883E 微电子器件试验方法和程序 微电路的失效分析程序 MIL-STD-883E方法 2010 内部目检（单片电路） 4 样品数量及编号：失效样品 1＃～ 6＃，良品 7＃～ 12＃ 5 样品概述及失效背景： MD87C51/B是一高速 CMOS单片机。委托方一共提供四种批次的此类样品。 1＃、 5＃、 10＃、 11＃、 12＃属 9724 批次，其中 1＃样品已做过二次筛选和环境应力试验，是在整机测试过程中失效， 5＃样品在第一次通电工作不正常，须断电后重新通电可以正常工作， 10＃～ 12＃样品是良品； 2＃、 3＃、 4＃样品属 9731 批次，这三个样品 在第一次上机时便无法写入程序，多次长时间擦除，内容显示为空，但仍不能写入； 6＃样品属 9931 批次，失效情况同 5＃样品； 7＃～ 9＃样品属 9713 批次，为良品。 分析仪器 序 号 仪器、设备名称 型 号 编 号 1 立体显微镜 LEICA ZM6 011701145 2 金相显微镜 OPTIPHOT200 011701120 3 图示 仪 TYPE576 B349533 仪 4 数字式示波器 TDS3012 B018857 5 内部气氛分析仪 IVA11