SPC理论与实战(保密) .pptxVIP

Statistical Process Control;背壳的加工工艺;3;第一章 SPC基础概念 两种控制模型 变差与分布 产生变差的特殊原因和普通原因 ;带着问题交流;SPC基础知识;SPC基础知识;;缺陷检测过程控制模型 ;工作方式 融入所有的资源;;;变差 因为过程中存在变差源（5M1E），这种差异的大小，影响整个过程，所以即使是同一过程生产出来的产品或是特性，都不可能完全相同。 ;变差、分布  ;变差、分布  ;变差的普通原因和特殊原因 ;变差的普通原因和???殊原因 ;普通原因的过程状态 ;特殊原因的过程状态 ;20;品质管理缺陷所发生的损失;品质成本分类;品质与成本;24;第二章 SPC抽样策略;26;27;28;29;30;31;32;第三章 控制图介绍 计量型和计数型控制图 判异原则 MINITAB中控制图的应用;控制图介绍;;控制图的组成部分;;控制图补充说明;正常;控制图分类; 计量型数据的控制图 Xbar-R图（均值－极差图） Xbar-S图（均值－标准差图） I-MR图（单值－移动极差图） （中位数图） 计数型数据的控制图 P图（不合格品率图） np图（不合格品数图） c图（不合格数图） u图（单位产品不合格数图）;控制图选择;计量型控制图 ;X bar - R控制图的操作步骤 ※确定对象、抽取数据（收集25个样本，每个含5个数据） ※计算样本的X和R ※计算所有数据的X和R ※计算R图的控制线、X图的控制线 ※将数据在图中打点并作图。;;MINITAB 操作演示;计量型控制图 ;I-MR 和 单值图;画 I-MR 图;E2, D3 和 D4 是休哈特控制常数;MINITAB 操作演示;np-图 测量不合格品比例 使用二项式分布 好/坏, 接收/拒收, 是/否 每个比例值是样本的子组 需要很多个子组 (最少50) 子组样本容量恒定 控制限将保持不变 为了分析合理，需要20或是更多的子组数;np-图;u-图 确定缺陷的数量 使用泊松分布 好/坏, 接收/拒收, 是/否 每个统计就是样本的一个子组 子组样本容量可能变化 控制限可能变化 为了利于分析，建议需要20或更多的子组数;u-图;关注缺陷零件数 np图 用于监测不合格品数量，要求子组容量恒定 p图 用于监测不合格品的比例，子组容量可以是变化的 一般可用于通/止规、合格/不合格数量、车辆漏水检测、线束通断等离散型缺陷数量的数据收集分析 关注缺陷数 c图 用于监测每个单位上的不合格数，要求子组容量恒定 u图 用于监测不合格数，子组容量可以是变化的 一般可用于玻璃上的气泡数量评价、油漆缺陷、零件外观缺陷点等针对每个零件上的缺陷数量的数据收集分析上;57;Nelson 在控制限之外的任何点 9 个连续的点在中心线的同一边 6 个连续的点连续上升或下降 3个点中有2个都在A区或之外 5个点中有4个都在B区或之外 14 个连续的点交互上升和下降 15 个连续的点在任一个C区 连续8个点距中心线的距离大于1个标准差（任意一侧）;Nelson 测试 1;Nelson 测试 2;Nelson 测试 3;Nelson 测试 4;Nelson 测试 5;Nelson 测试 6;Nelson 测试 7;Nelson 测试 8;67;第四章 过程控制及过程能力 正态检验 过程能力及过程性能 正态数据的过程能力 非正态数据的过程能力 ;过程控制;过程控制系统的目的是：消除特殊原因，对当前和将来的过程状况进 行预测。 在过程控制当中，存在两种风险： 1、控制过多（第一类风险）； 2、控制不足（第二类风险）； 当过程中仅存在普通原因时，过程统计受控； 当过程存在特殊原因时，过程控制系统将会提供统计信号，那么就应该对特殊原因采取相应的行动（如果对过程有害，就去除掉，如果对过程有益，使他们长期保留）； 过程控制系统不是一时的评价工具，它真正的好处是应该作为一种持续学习的工具。;变量数据（总体近似服从正态分布）: 1、过程能力(Process Capability)； 2、过程性能(Process Performance)。;长期过程数据;变量 数据;当一个过程受控，输出是一致的并且只有普通原因造成的变差，不会有特殊原因造成的变差出现。但是，一个受控的过程并不意味着会生产出符合规范的产品或服务。;过程控制及过程能力;1;过程控制及过程能力;过程控制及过程能力;±1σ ±2σ ±3σ ±4σ ;正态检验－工具;正态检验－