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UT中级设备与器材知识练习题 一．是非题 A型脉冲反射式超声波探伤仪是以判断回波位置. 回波高度和回波形状来评价缺陷的。(O) B型显示能展现工件中缺陷的埋藏深度。(O) C显示能展现工件中缺陷的投影形状，不能展现深度。(O) 探头的近场区就是探头的盲区。（X） 单晶直探头始脉冲宽，盲区大。双晶直探头盲区小。(O) 硬保护膜适用于表面较光洁的工件检测，但较软保护膜带来更大的始波宽度，分辨力变差，灵敏度降低。(O) 阻尼块的作用是使探头晶片振动时间缩短，但同时也吸收了探头产生的杂波(O) 毛面探伤时，用软保护膜探头灵敏度比硬保护膜低（X） 双晶直探头相当于一个粗糙的聚焦探头，探头中两个晶片的倾角越大则探测深度越大（X） 聚焦探头的主要优点是声束细，指向性好，能量集中，定位精度高，扫查范围大。（X） 由于水中只能传播纵波，所以水浸探伤只能进行纵波探伤。（X） 使用耦合剂的主要目的是去除探头与工件间的空气间隙，使超声波能够传入工件。(O) 手工探伤，为使探头与工件良好接触，用力越大越好。（X） 斜探头前部磨损较大，则K值将会增加。（X） 调节衰减器不会影响仪器的垂直线性，而改变增益和抑止旋钮则会影响仪器的垂直线性（X） 增大仪器的发射强度，则仪器灵敏度会进一步提高，同时对缺陷的分辨率也会减小(O) 二．选择题 A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（ C ） 缺陷的性质和大小 缺陷的形状和取向 缺陷回波的大小和超声传播的时间 以上都是 A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示波高的大小表示：（ A ） A. 超声回波的幅度大小 B. 缺陷的位置 C. 被探材料的厚度 D. 超声传播时间 影响仪器灵敏度的旋纽有：（ D ） A. 发射强度和增益旋纽 B. 衰减器和抑制 C. 深度补偿 D. 以上都是 仪器的垂直线性好坏会影响（ A ） A. 缺陷的当量比较 B. AVG曲线面板的使用 C. 缺陷的定位 D. 以上都对 调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（ D ） A. 垂直线性 B. 动态范围 C. 灵敏度 D. 以上全部 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（ C ） A. 近场干扰 B. 材质衰减 C. 存在盲区 D. 折射 表示探伤仪与探头组合性能的指标有：（ B ） 水平线性. 垂直线性. 衰减器精度 灵敏度余量. 盲区. 远场分辨力 动态范围. 频带宽度. 探测深度 垂直极限. 水平极限. 重复频率 目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是（ C ） A. 石英 B. 钛酸钡 C. 锆钛酸铅 D. 硫酸锂 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（ A ） A. 探测范围大 B. 盲区小 C. 工件中近场长度小 D. 杂波少 对超声波试块材质的基本要求是（ D ） 其声速与被探工件声速基本一致 材料中没有超过φ2mm平底孔当量的缺陷 材料衰减小且均匀 以上都是 超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为：( D ) A. 检测灵敏度 B. 时基线性 C. 垂直线性 D. 分辨力 下面关于横波斜探头的说法哪一句是错误的（ C ） 横波斜探头是由直探头加透声斜楔组成 斜楔前面开槽的目的是减少反射杂波 超声波在斜楔中的纵波声速应大于工件中的横波声速 横波是在斜楔与工件的交界面上产生 探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用（ C ） 声阻抗小且粘度大的耦合剂 声阻抗小且粘度小的耦合剂 声阻抗大且粘度大的耦合剂 以上都不是 关于耦合剂选用的说法错误的是（ D ） 表面粗糙的工件耦合剂应当选粘度大的合适 对竖面工件探伤，用水玻璃比用甘油好 在防锈场合使用耦合剂，用机油比较合适 无论什么场合用价格低廉的耦合剂都合适