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2021-02-02 发布于江苏
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文件编号文件版本共54页 V1.10 信号质量测试规版权所有，翻录必究第 1页，共 51页本规范修改记录：修订版本修订日期修订内容修改人 A1 2005-5-31 对A0版本进行优化：邓兴昌 1、统一文档排版风格。修改第一版中部分描述和定义不是很清楚的地方。删除某些不实用的测试方法，简化部分“测试示例”内容。 2 、原4.2节用统一的表格方式表示，增加回勾、振荡、建立保持时间等内容，并补充产生原因、解决建议等内容。合并原 “7.1.4 合格标准” 和“7.1.3 测试方法”，并增加“测试点”和“注意事项”内容； 3、增加“4.5 测试点选择”内容，增加“5.3 信号质量测试结果分析注意事项”，增加第8节 “测试系统接地说明”、第9节 “信号质量测试checklist”。把参考资料放到最后一节； 4 、在第6节每项测试方法中详细定义测试操作方法，以求测试结果一致性； A0 2004-7-10 新拟制起草人版权所有，翻录必究第 2页，共 51页目录版权所有，翻录必究第 3页，共 51页版权所有，翻录必究第 4页，共 51页信号质量测试规关键词：信号完整性、测试摘要：本规范详细说明了单板信号质量测试的方法。其中包括各类信号波形参数的定义，进行信号质量测试的条件，覆盖范围，合格标准，信号分类，各类信号波形参数的指标，测试点的选择以及测试结果分析重点。缩略语清单： SI Signal Integrity 信号完整性 TTL Transistor-Transistor Logic 晶体管- 晶体管逻辑 CMOS Complementary Metal Oxide Semicondutor 互补金属氧化物半导体 LVTTL Low Voltage TTL 低电压ＴＴＬ LVCMOS Low Voltage CMOS 低电压ＣＭＯＳ ECL Emitter Coupled Logic