光纤的环境性能.docx

光纤的环境性能 第一节 光纤环境性能测试的目的 随着人们对信息需求的日益增长及光纤通信技术的日趋成熟， 光纤光缆正在 以架空、直埋、管道、沟道、隧道、水下等敷设方式在各种各样的实际使用环境 中，织制着纵横交错的光缆网络。光纤光缆跨越各种温区，要能经受不同环境条 件的作用。 为确保光纤能在各种严酷环境条件下正常工作，我们应该模仿光纤实际使用 场所的温度、潮湿、高温高湿、高温、核辐射等环境条件设计出温度循环、 浸水、 高温高湿、高温、核辐射等试验来检验光纤对气候的适应性、耐核辐射等性能是 否符合要求。 人们正是在充分研究光纤的环境性能的基础上，设法改进光纤的材料选择、 结构设计、制造工艺、正确选择涂覆、套塑材料及相应的涂覆工艺和合理选择光 缆材料、光缆结构和成缆工艺。如果我们从理论和试验中找出致使光纤环境性能 下降的原因所在，那么改善光纤环境性能的办法也就指日可待了。 第二节测量方法 光纤环境性能试验主要包括温度循环。浸水、高温高湿、核辐射等。温度循 环试验用来验证光纤的气候适应性能， 浸水试验是考察光纤的耐水侵蚀性能， 高 温高湿试验则是判断光纤耐高温高湿作用的性能， 高温试验是用来评价光纤耐高 温的性能，核辐射试验用以检测光纤耐 丫射线辐射的耐辐照性能。下面对光纤环 境性能的测量原理、试验装臵和试验程序等作简单介绍。 一、温度循环 测量原理 光纤温度循环试验的测量原理是通过模拟光纤在储存、运输和使用期间可能 经受的最坏温度变化来确定 A1a-A1d多模光纤和B1-B4单模光纤对温度变化的衰 减稳定性，即光纤的衰减温度特性。 光纤的温度衰减特性试验是将受试的整筒光纤放在气候室内， 在温度循环试 验规定的温度范围内进行温度循环试验，以确定温度变化时，光纤的附加损耗量。 温度循环试验结束后，可按下式计算出光纤的平均附加损耗： , 10 P log (dB/km) (7.1) L Po 式中：P—分别在试验点Ta、Tb、保温后的稳定光功率; R—参考温度To的光功率； L—试样长度。 另外，我们还可以用光时域反射计（OTDR直接测量不同温度点的OTDF曲线, 从而确定光纤的温度附加损耗量。 试验装臵 光纤的温度衰减特性的试验装臵主要由衰减测量装臵和气候室组成。 （1） 衰减测量装臵 应采用GB/T 15972.4-1998《光纤总规范第4部分：传输特性和光学特性试 验方法》中规定的传输功率监视法和 GB/T 15972.4规定的后向散射法中的衰减 测量装臵来测定被测光纤的温度衰减变化。 （2） 气候室 气候室的体积大小应适合容纳被试光纤线盘， 气候室的温度应地规定试验温 度范围内，其温度控制精度应在土 3C内。采用强制空气循环来维持气候室内温 度均匀，气候室的设臵及辅助设备的安放要避免冷凝水滴落到受试光纤试样上。 试验程序 试样为出厂长度或按产品规定的长度，并应为可达到所需试验准确度的适当 长度。建议被试光纤最短长度为：多模光纤（A1a?A1d）应不短于1000m单模光 纤（B1?B4）应不短于2000m 如果受试光纤经滑石粉处理，那么应从该试样光纤中抽出一段未涂抹滑石粉 的光纤进行试验。为了得到具有重复性的试验结果， 试验光纤应松驰地绕在线盘 上并臵于气候室内。试验结果可能会受到光纤弯曲半径的影响。基于这个考虑， 试样松绕成卷并用滑石粉材料处理，以便使卷绕的紧挨各圈，彼此能自由地移动。 受试光纤可以以水平或垂直方式绕成最小弯曲直径为 150mm以避免发生宏弯作 用。 被测光纤试样放入气候室内，在规定的时间内经受各种温度变化。试验条件, 如表7.1所示。 表7.1 温度循环试验条件 预处理条件 温度测试条件 标称值 2h,23 C ,50 % RH 最低温度 Ta -60 C 或-40 C 最高温度 Tb +85C 或 +70C 在每个温度下最小的持续时间 t1 2h 最大的温度速率 斜坡速率 1C /min 需要完成的循环次数 循环次数 2 试验具体步骤与内容大致如下: 试验前应将被试光纤试样臵于正常试验大气环境中预处理时，目视检查外 观，然后将试样光纤的两端分别与稳定光源和光检测系统连接好， 待监测系统稳 定后测定环境温度下的衰减基准值。 将处于环境温度下的试样光纤臵入气候室，并将试样光纤两端引出气候室 外,与稳定光源和光检测系统连接好或与光时域反射计连接好。 再以适当的冷却 速率将气候室温度降到规定的低温 Ta，待室内温度达到稳定后，接着使试样光纤 在Ta温度下保温适当的时间11(t 1 2h)。然后以适当的加热速率将气候室温度升 高至规定的高温Tb，待室内温度稳定后，使试样光纤在 Tb温度下保温适当的时 间t1,再以适当的冷却速率将气候室温度降至环境温度。 上述的降温、保温、升 温、保温过程构成了一个温度循环。如图 7.1所