智能传感器系统-刘君华第6章.pptVIP

图 6-23 ROM自检程序 6.4.3 RAM自检 图 6-24 RAM自检程序Ⅱ图 6.4.4 总线自检 图 6-25 总线自检原理图 ? 6.4.5 A/D和D/A的自检 一、 标定电路和A/D变换器的自检 进行标定电路和A/D变换器的自检，首先是将智能传感器内的参考/基准电源接在标定电路的输入端，然后启动正常测量程序， 并将采样结果与机内ROM中的预定值相比较，若误差在允许范围之内，则标定电路和A/D变换器工作正常；反之，则将参考电源直接接入A/D变换器的输入端，再启动测量程序，并将此次采样结果与机内ROM中的预定值相比较，若误差在允许范围之内， 则A/D变换器工作正常，反之可断定A/D变换器工作故障。 二、 D/A变换器的自检 D/A变换器在智能传感器输出环节具有重要意义，它的自检常需要A/D转换器的配合。自检的方法是由微处理器产生扫描电压信号(锯齿波)， 将该信号接入D/A转换器的输入端，D/A转换器的输出经微处理器采样，判断采样结果与机内预定值的误差是否在允许范围之内，若在允许范围之内，则认为D/A转换器工作正常，反这， 接“一”中方法判断A/D转换器工作正常否，若此时A/D转换器工作正常， 则可断定D/A转换器工作故障。 6.4.6 I/O接口电路自检 不同的智能传感器系统的I/O接口电路不同，因此，测试方法各有差异。例如，对一个具有A/D转换功能 的I/O接口电路可以通过读取硬件设计中固定的“0”、 “1”通道，并判断是否正确来检测转换电路的正确性。若智能传感器系统带有键盘和显示器，通常对I/O接口电路的检测方法是通过读取相应的标志寄存器来判断其状态正常与否。有些I/O接口电路还专门为一些关键接口部件设计自检电路来检测故障。这种情况下，I/O接口的检测只需要启动相应的自检电路即可实现。 6.4.7 插件自检 插件自检包括两个内容：  (1) 检查插件是否已经插入；  (2) 检查插件是否正常工作。 6.4.8 显示面板自检 图 6-26 显示器自检程序流程图 6.5 自 诊 断 6.5.1硬件冗余方法 传感器故障诊断的早期方法主要是采用硬件冗余方法(Hardware Redundancy)。 硬件冗余方法是对容易失效的传感器设置一定的备份， 然后通过表决器方法进行管理。 也就是说，硬件冗余方法是由两上，或者三个，或者四个完全一样的，而且是测量相同的被测量的设备构成的。对冗余设备的输出量进行相互比较可以验证整个系统输出的一致性。一般而言，双重冗余配置只判断有无传感器故障，不能分离故障；三重冗余系统则可以判断有无传感器故障，并且可以分离传感器故障。硬件冗余方法的优点是不需要被控对象的数学模型，而且鲁棒性相当强。其缺点是设备复杂，体积和重量都很大，占空间，而且成本较高， 尤其是对于有许多测量量的情况而言，硬件冗余方法的不足就更为突出。 6.5.2 解析冗余方法 一、 解析冗余方法原理 图 6-27传感器故障诊断的解析冗余方法原理图 ? 从图中， 我们可以看到解析冗余方法的大致步骤是：  (1) 模型设计。根据被控对象的特性、传感器的类型、故障类型以及系统的要求等等，建立相应的被控对象的数学模型。 (2) 设计与传感器故障相关的残差。在相同控制量作用下， 传感器输出信号和由模型所得值之差，称为残差。在没有传感器故障时，残差应为零。 当有传感器故障时，残差不再为零。 也就是说，残差中包含了传感器故障信号。  (3) 进行统计检验和逻辑分析。用统计检验和逻辑分析方法可以依断某些类型的传感器故障。 二、传统的观测器组方法 1. 专用观测器组方法 图 6-28 传感器故障诊断控制系统 设图中动态对象的数学模型为 式中： X=(x1, x2,…, xn)T 为被控对象的内部状态；  U=(u1, u2, …, up)T 为被控对象的输入控制量；  X=(y1, y2,…, yq)T 为传感器的输出量。 如果系统内部状态X或者部分内部状态Xi={xi, i=1,…, n1且n1≠n}能够从每个可测变量yi, i=1,…, q中被观测到，即yi可以由系统内部状态或者部分内部状态表示出来。那么，我们可以构造出由yi驱动的观测器，其模型方程为 式中： 为X的估计值； 为由yi驱动的对输出Y的估计值。 在无传感器故障时 (i, j=1, 2, …, q) 而如果第m个传感器发生故障，那么 (i, j=1, 2, …, q且i≠m ) 可以知道，这部分的工作是在图6