核反应方法分析氢分布.docVIP

核反应方法分析氢分布 一、实验H的： （1） 、熟悉串列静电直线加速器的加速原理； （2） 、了解带屯粒子与物质的相互作用，及其在物质屮的散射的原理; （3） 、学会使用离子分析材料小的H分布； （4） 、感受使用加速器加速粒子对材料进行的无损离子束分析的优点; 二、实验仪器： 2 x 1.7 MV串列直线减速器1台、靶室1套、BGO闪烁体探测器及相应电 子学插件1套、H均匀分布的Si标准样品1份（含H比13.9%）、未知H分 布的样品2分（7号、8号） 三、实验原理： （1） 与力的共振核反应 带电粒子射入材料后，与H原子核发生反应，生成处于激发态的2°Nc* 核，然后a衰变生成0*核，o*核退激到基态，发射一个丫光子，反应道为 ,9F+ H ,9F+ H 100-I00-60-20-1E=6.42MeV r=55keV. a=0.1b 100- I00- 60- 20-1 E=6.42MeV r=55keV. a=0.1b A一/ \―卜“一 * * ￡=17.56MeVIp一J m k 由于产生的a粒子和O离子很难飞岀样品材料，所以通过测量核反应发射 的丫光子产额来确定核反应发生的次数，进而确定出材料屮H的和对含量。再 与已经H分布的标准样品实验结果比对，得到真实的H含量。 上述核反应的激发曲线如图1所示。当入射的F离子能量分别为6.42MeV 和16.44MeV时，激发曲线岀现两个主要的共振峰。共振峰的形状用Breit-Wigner 公式描述为 r^90keVt a=O.5b ?]????—.?■????[??■?■■—??『小■ I [ -n ，广 “ 1—?…| € 8 10 12 14 16 18 20 图U *H（l9F,l6O）a核反应激发曲线 （2）共振峰的选择 由于2 x 1.7 MV加速器的能量限制，实验屮利用入射F离子能量E=6.42McV 的共振核反应。该反应会发射能量分别为6.13MeV、6.92MeV、7.12MeV的丫光 子，其屮，能量为6.13MeV的丫光子大约占97%,因此可以近似认为测量到的丫 光子计数全部由6.13MeV的丫光子贡献。 使用此共振峰的优点在于：①此能量与其它共振峰相距较远，不会受其它 共振峰影响；②反应放出的丫光子能量高，可以很好得被分辨，本底干扰小； ③ 在此条件下可以通过提高束流来减少测量时间。缺点在于6.42McV的共振峰 有一定的宽度，导致离子入射深度无法精确测量，使深度分布的精度约为20nm 到 30nm。 （3） H分布的深度分析 当F离子入射能量高与共振能量时，F离子与I【原子的反应截面较小，大部 分F离子将受到材料原子的阻止而减速。随着入射深度的增加，F离子的能量越 来越小，为F离子能量进入共振能量ER附近时，才与H核发生共振核反应，放 出Y光子。由F离子的阻止本领可知，F离子与H核反生共振核反应吋的入射深 度为 兀二 E°_ Er \dE / dx\ 串列加速器屮，离子源产生的F离子，经过一次加速后被剥离为F4离子再 次加速。因此最终得到的F粒子能量为 E°=(4 + l)xHV MeV F离子发生共振核反应的深度约为 (4 + l)xHV —6.42 (4 + l)xHV —6.42\dE/dx\ xlO6 （4） H分布的含量分析 —?个F离子的共振核反应发射一个丫光子，因此丫光子的产额也就对应着材 料屮H的含量，所以BGO探测器的计数与材料屮H的含量呈正比。假设F离 子在材料屮的阻止本领为，材料的密度为 子在材料屮的阻止本领为 ，材料的密度为p,原子序数为A,共振区的 H含量为C, BGO探测器计数为N,则 dE C x N — P dx E=Er 若测得了己知H含量的标准样品下BGO探测器的计数Cst,则 四、实验步骤： 将样殆装上靶盘，装入靶室内，对系统抽真空。靶室丄接好“束流”线 和“抑制”线，“抑制”线加-270V电压； 将BGO探测器对准靶室窗，高雅加至580V-600V,测量本底的丫射线能 谱，从谱中识别出40K和2O6T1的特征丫射线能量1460.7kcV和2614.3kcV,然后 通过这两个能量峰的道址对多道进行能量刻度； 根据刻度好的道址■能量关系，确定丫光子能量范W 3MeV-7MeV对应的 道址区间； 将标准样甜对准加速器束流线，用束流积分仪控制计数的开始和终止， 每次计数的束流积分为20|iC,分别在加速电压为1.30MV、1.35MV、1.40MV、 1.345MV、1.50MV吋测量3MeV?7MeV的丫光子计数； 换上7号、8号样品，同样控制束流积分为20pC,加速器加速电压在 1.26MV到1.50MV间选取10个电压值测量相应的3MeV-7MeV的丫光子计数； 使用SRIM计算出各入射能量下F离子的阻止本