JS001-D-201303-v01半导体检验流程及检验标准.docxVIP

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2021-02-23 发布于天津
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西安华晶电子技术股份有限公司工艺标准名称适用范围技术通知单半导体级毛棒检验流程及检验标准质量部仓储部半导体分厂编号工艺标准名称适用范围技术通知单半导体级毛棒检验流程及检验标准质量部仓储部半导体分厂编号目的为指导检验员对本公司生产的直拉单晶硅棒的检测以确定所检产品是否达到品质要求以确保产品满足市场需求适用范围适用于本公司生产的直拉单晶硅棒的检测程序和要求技术指标项目寸寸生产工艺晶向导电类型掺杂元素磷特殊要求见合同要求少子寿命卩卩电阻率范围特殊见合同要求特殊见合同要求电阻率均匀性氧含量碳含量直径晶体

西安华晶电子技术股份有限公司工艺、标准名称适用范围技术通知单Q/HJ.J7-32半导体级毛棒检验流程及检验标准质量部、仓储部、半导体分厂编号：工艺、标准名称适用范围技术通知单 Q/HJ.J7-32 半导体级毛棒检验流程及检验标准质量部、仓储部、半导体分厂编号：JS001-D-201303-V01 2013.03.11 目的为指导检验员对本公司生产的直拉单晶硅棒的检测，以确定所检产品是否达到品质要求，以确保产品满足市场需求。适用范围适用于本公司生产的直拉单晶硅棒的检测。程序和要求 3.1技术指标项目 3寸 4寸生产工艺 CZ CZ 晶向〈111〉： 2.0o 〈

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