国家标准《工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定X-射线荧光光谱法》编制说明.docxVIP

工业硅化学分析方法第五部分 杂质元素含量的测定X 射线荧光光谱法（送审稿） 编制说明 昆明冶金研究院 2013-11-8 工业硅化学分析方法 第五部分 杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》 国家标准送审稿编制说明 工作简况 1.1 立项目的和意义 工业硅是现代工业尤其是高科技产业必不可少的材料，被广泛应用于化工、冶金、电子信息、 机械制造、 航空航天、 船舶制造、 能源开发等各工业领域， 近十多年来， 硅产业在原料精选、 工艺、 设备、 精炼等方面不断提升和进步， 工业硅产品由原来大部分作为冶金用硅发展到能满足多方面需 求的化学用硅，大量用于有机硅、 半导体材料及电子等诸多行业。尤其是