经典SPC培训教材.ppt

A收集数据 B计算控制限 C过程控制解析 D过程能力解析 C1 C2 C3 C4 C5 C6 C7 重新计算控制限——极差图 在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因影响的子组，然后重新计算新的平均极差R和控制限，并画下来，使所有点均处于受控状态。 由于出现特殊原因而从R 图中去掉的子组，也应从X图中去掉。修改后的 R 和 X 可用于重新计算均值的控制限。 注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是“丢弃坏数据”。而是排除受已知的特殊原因影响的点。并且一定要改变过程，以使特殊原因不会作为过程的一部分重现。 x-R 均值和极差控制图的建立 A收集数据 B计算控制限 C过程控制解析 D过程能力解析 C1 C2 C3 C4 C5 C6 C7 控制图判读——均值图分析 超出均值控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种情况： 控制限计算错误或描点时描错 过程已更改，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分。 测量系统变化（如：不同的检验员或量具） 连续 7点在平均值一侧或7点连续上升或下降，与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两者： 过程均值已改变 测量系统已改变（漂移，偏差，灵敏度） x-R 均值和极差控制图的建立