X射线粉末法测定晶体结构.docxVIP

实验 17 X 射线粉末法测定晶体结构 目的 1. 掌握 X 射 粉末法的基本原理，初步了解 X 射 衍射 的构造和使用方法； 根据 X 射 粉末衍射 ，分析 定多晶 品的物相。 原理 通 物 构 的学 ， 我 已 知道： 晶体具有周期性 构，凡是 晶物 ，都具有 其特有的晶体 构 型， 它的晶胞大小、 晶胞中所含原子、 离子或分子的数目以及它 在晶 胞中所 的位置也各具特征，所以在 X 射 照射下，呈 出具有衍射特征的物相 ，如同 人的指 一 。例如金 石和石墨，它 的化学成分相同，但由于其碳原子 的 构不同， 因此两者物相 上的衍射数据是不同的， 用一般的化学分析方法是无法区 的。 此外， 几 种 晶体混合在一起 ，也能在物相 中定性定量地 定出来， 是我 用 X 射 衍射 法 行物相分析的基 。 图 17-1 原子在晶体中的周期性排列 由于晶体的周期性 构， 一个立体的晶体 构， 可以看成是一些完全相同的原子平面网 按一定距离 d1 平行排列而成，也可以看成是另一些原子平面网按另一距离 d2 排列而成，如 17-1 所示。故一个晶体必存在着一 特定的 d (d1, d2, d3, ?)， 构不同的晶体其 d 决不相同， 可以用它来表示晶体的特征。 X 射 粉末法就是通 定 d 来确定晶体 构，下面 述其方法。 假定晶体中某一方向上原子面