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激光束实时方位校正与参数测量综合系统 报告人：黎达宇、钟永贤 背景 随着激光技术的持续快速发展，对激光器的光束质量要求越来越高。如何有效地检测和评价激光光束质量已成为激光技术研究中的关键问题 稳定的激光光束对工业领域和科学研究都是非常重要的。由于各种环境扰动因素的影响，激光光束会出现微量的方位漂移。当漂移量较大时，会严重影响后续系统的工作。 系统方案： 本项目是基于双CMOS探测器和简单光路 ，从而实现激光光束的实时双靶校正、光束参数测量和质量评价。 优点 本项目具有成本低，校正和测量精度高，功能整合等优点。 在光路和算法上具有创新性。 系统功能架构 光束方位实时校正——校正光路 激光（Laser）进入系统，先后经过固定反射镜M1、可调反射镜M2及M3反射后入射光楔（Wedge），其中大部分光能透射，小部分光能被光楔两个反射面反射并被两个不同位置的CMOS探测器（Detector1和2）接收。透射光经过一个可调滤光装置（Adjustable filter）后，再经过光阑D1、D2并最终进入后续的工作系统。 其中，M2反射镜调节光束X轴漂量，M3反射镜调节光束Y轴漂量。 结构缺点 M2反射镜耦合其他方向的分量，令调节难度加大。 调节过程缓慢 改良后的系统架构 结构紧凑 调节效率高 光束方位校正——定位 快速定位算法 基于单片机的控制器进行运算，用于精度要求不高但实时速度要求高的场合。采用四象限法作为快速定位算法。 精确定位算法 由上位机（计算机）进行一阶矩运算，用于精度要求高但实时速度要求不高的场合。 快速定位算法（仿四象限算法 ） 把CMOS像素阵列分为四个象限，其面积分别标为ＳⅠ、ＳⅡ、ＳⅢ、ＳⅣ。对四个象限分别进行像素灰度值求和，得到的值应分别基本正比于ＳⅠ-ＳⅣ，而光斑中心偏移量Δｘ和Δｙ则可表示为 精确定位算法 首先利用空间域稀疏约束项把噪声滤除，然后采用下式所示的一阶矩计算光斑中心坐标。 光束方位校正——STM32控制流程 1、手动控制，直到光束打到两个摄像头的感光面 上，然后进入自动调节 2、调节两块转镜，调节角偏量，直到第一块摄像头 的感光面中心 3、调节平移台，调节水平偏量，直到第二块摄像头 的感光面中心 4、反复以上两个步骤，用逼近法到达目标位置 高斯光束参数测量与质量评价 CMOS采集的光斑信息首先传给控制器，再经由串口通讯传给上位机，参数测量与质量评价的数据分析计算由上位机完成。 对于多模高斯光束，我们采用M2因子评价光束质量。多模光束服从传输方程 ： Thanks * * 光束方位实时校正 高斯光束参数测量与质量评价 式中k为常系数 1/1.8英寸 约7.1mm*5.3mm 1/6英寸 约2.1mm*1.6mm CMOS尺寸 大恒光电摄像头 Ov7670摄像头 1280*1024 640*480 像素 大恒光电摄像头 1/1.9 ? ?(6.4×4.8mm, ) 1/2.5(5.12*3.9mm) 1/1.8 Cmos尺寸 YX185BHD HM-9024 MT9M001 OV5620 大恒光电 230 210 200 160 4775 价格 5.2*5.2um 2.2*2.2um 5.2*5.2um 像素大小 2.1V/lux-sec 500mV/Lux*sec 1.2V/lux-sec@550nm 灵敏度 45dB 44dB 45dB(max) 40dB 42dB 信噪比 76dB 69.5dB 68.2dB 54dB 60dB 动态范围 1280*720 1280*720 1280*1024 2592*1944 1280*1024 像素 对于基模高斯光束，只要测得束腰半径和光腰坐标，即可完全获知其纵向和横向场分布特性。基模高斯光束形貌如下图所示，光斑半径随传播的变化服从双曲线方程。  从两个探测器可测出 ，而两探测器距离 已知，故可列出三元方程组： 求解得到束腰半径，探测器位置 和 。 可根据 计算焦参数 根据 计算出远场发散角 对于基模高斯光束，远场发散角可用于评价光束质量，发散角越小光束准直性越好。 根据之前测得的 ，再控制探测器2的平移台移动一定距离并测出 ，从而求解四元方程组 ，得出M2因子 *