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(3) (3) 实验三 单缝衍射光强分布研究 一、实验简介 光的衍射现象是光的波动性的一种表现。衍射现象的存在，深刻说明了光 子的运动是受测不准关系制约的。因此研究光的衍射，不仅有助于加深对光的 本性的理解，也是近代光学技术（如光谱分析，晶体分析，全息分析，光学信 息处理等）的实验基础。衍射导致光强在空间的重新分布，利用光电传感元件 探测光强的相对变化，是近代技术中常用的光强测量方法之一。 二、实验目的 1、观察单缝衍射现象，研究其光强分布，加深对衍射理论的理解； 2、学会用光电元件测量单缝衍射的相对光强分布，掌握其分布规律； 3、学会用衍射法测量狭缝的宽度。 三、实验原理 1、单缝衍射的光强分布 当光在传播过程中经过障碍物时，如不透明物体的边缘、小孔、细线、狭 缝等，一部分光会传播到几何阴影中去，产生衍射现象。如果障碍物的尺寸与 波长相近，那么这样的衍射现象就比较容易观察到。 单缝衍射有两种：一种是菲涅耳衍射，单缝距离光源和接收屏均为限远，或者 说入射波和衍射波都是球面波；另一种是夫琅禾费衍射，单缝距离光源和接收 屏均为无限远或相当于无限远，即入射波和衍射波都可看作是平面波。 在用散射角极小的激光器(0.002rad)产生激光束，通过一条很细的狭缝 (0.1?0.3mm宽)，在狭缝后大于0.5m的地方放上观察屏，就可以看到衍射 条纹，它实际上就是夫琅禾费衍射条纹，如图 1所示。 屏 屏 当激光照射在单缝上时，根据惠更斯一菲涅耳原理，单缝上每一点都可看 成是向各个方向发射球面子波的新波源。由于子波迭加的结果，在屏上可以得 成是向各个方向发射球面子波的新波源。 由于子波迭加的结果，在屏上可以得 到一组平行于单缝的明暗相间的条纹。 激光的方向性强，可视为平行光束宽度为 激光的方向性强，可视为平行光束 宽度为 d的单缝产生的夫琅禾费衍射 sin图样，其衍射光路图满足近似条件: sin XD 产生暗条纹的条件是: d si n k k1, 2, 3, d si n k k 1, 2, 3, (1) 暗条纹的中心位置为: x kDd 两相邻暗纹之间的中心是明纹次极大的中心。由理论计算可得，垂直入射于单缝平面的平 两相邻暗纹之间的中心是明纹次极大的中心。 由理论计算可得，垂直入射于单缝平面的平 行光经单缝衍射后光强分布的规律为: d sin 式中，d是狭缝宽， 是波长，D是单缝位置到光电池位置的距离，x是从 衍射条纹的中心位置到测量点之间的距离，其光强分布如图 2所示。当 相同, 即x相同时，光强相同，所以在屏上得到的光强相同的图样是平行于狭缝的条纹 时, 时, x 0，I Io，在整个衍射图样中，此处光强最强，称为中央主极大；中央 明纹最亮、最宽，它的宽度为其他各级明纹宽度的两倍 当 k k 1, 2,，即x k Dd时，I 0,在这些地方为暗条纹。暗 条纹是以光轴为对称轴，呈等间隔、左右对称的分布。中央亮条纹的宽度 x可 用k 1的两条暗条纹间的间距确定， x 2 Dd ;某一级暗条纹的位置与缝宽 d成反比，d大，x小，各级衍射条纹向中央收缩；当d宽到一定程度，衍射现 象便不再明显，只能看到中央位置有一条亮线，这时可以认为光线是沿几何直线 传播的。 次极大明纹与中央明纹的相对光强分别为： TOC \o 1-5 \h \z 丄 0.047,0.017,0.008, ⑷ 1 0 2、 衍射障碍宽度d的测量 由以上分析，如已知光波长 ，可得单缝的宽度计算公式为 d k Dx （5） 因此，如果测到了第k级暗条纹的位置x，用光的衍射可以测量细缝的宽度 d。同理，如已知单缝的宽度d，可以测量未知的光波长 。 3、 光电检测 光的衍射现象是光的波动性的一种表现。研究光的衍射现象不仅有助于加 深对光本质的理解，而且能为进一步学好近代光学技术打下基础。衍射使光强 在空间重新分布，利用光电元件测量光强的相对变化，是测量光强的方法之一， 也是光学精密测量的常用方法。 当在小孔屏位置处放上硅光电池和一维光强读数装置，与数字检流计（也 称光点检流计）相连的硅光电池可沿衍射展开方向移动， 那么数字检流计所显示 3所示。出来的光电流的大小就与落在硅光电池上的光强成正比，实验装置如图根据硅光电池的光电特性可知，光电流和入射光能量成正比，只要工作电压不太 3所示。 由于硅光电池的受光面积较大，而实际要求测出各个点位置处的光强，所 以在硅光电池前装一细缝光栏（0.5mm），用以控制受光面积，并把硅光电池装在 带有螺旋测微装置的底座上，可沿横向方向移动，这就相当于改变了衍射角。 单缝 硅光电池激光管 硅光电池 0」 四、实验仪器 衍射光强实验系统：①单色光源：He Ne激光器；②衍射器件：可调单缝、 多缝板、多孔板、光栅；③接收器件：光传感器、光电流放大器、