2003版尚林源开题报告及文献综述尚林源_开题答辩11 22.ppt

多变量MPC控制回路的性能监控方法研究 导 师: 田学民 教授 答辩人: 尚林源 专 业: 控制科学与控制工程 目录 一、课题研究的背景及意义 在实际生产过程中，MPC控制器在运行初期都能够满足性能要求，但由于多种因素的影响，控制器的性能会随着时间的推移而降低，如：生产设备老化，模型失配，执行器的损耗等 ，如不进行及时维护，会影响过程控制系统的有效性，降低企业的效益。 控制系统的维护和改良需要详细的控制器性能评价和诊断知识，通过性能评价和诊断不仅可以确定控制回路是否运行良好，而且还可以确定其性能下降潜在的原因。来指导现场工程师采取相应措施，及时进行维护，将效益损失减到最低，甚至可以避免生产事故的发生。 二、课题的研究现状及存在的问题 尽管针对预测控制器性能评价的研究已经取得很大的进展，但仍有一些问题需要解决： 存在的问题 非线性、多工况预测控制器的性能评价问题 约束存在情况下预测控制器性能评价问题 性能评价的及时性与性能源的准确定位问题 多因素影响下的预测控制器性能诊断问题 三、课题研究的目标和研究内容 研究目标： 鉴于实际生产过程当中，预测控制器的性能恶化是由于被控过程、控制器、执行器、传感器等环节的变化以及外界干扰造成的，而目前的性能评价与诊断方法大多将被控过程、执行器和传感器三个环节作为广义对象来进行研究，从而不能更加准确的定位恶化源。本课题旨在研究将上述四个环节都考虑在内的MPC控制回路的性能评价与恶化源定位问题。 鉴于以上研究目标，本课题的研究内容如下： 1) 拟采用基于多步预测误差的评估方法来估计模型预测控制性能基准的上限和下限，从而得到模型预测控制的次优性能基准。 2)拟采用基于数据驱动的方法研究将执行器和传感器考虑在内的控制回路的性能评估和诊断方法，从而可以对由于执行器或传感器特性变化而导致的性能下降进行诊断。 3)拟采用基于模型残差的方法研究模型失配和干扰增大这两个因素单独和同时作用导致性能下降时恶化源的定位问题。 拟解决的关键问题： 1)在MPC控制回路的性能诊断中，首先要根据先验知识及过程数据建立控制回路性能恶化模式类别，因此，当MPC控制回路性能出现恶化时，如何准确地对当前性能恶化数据段进行模式类识别是拟解决的关键问题。 2)相对于单因素影响下的性能诊断，多因素影响下的性能诊断更加的复杂，如何从获得的数据和信息中将模型失配和噪声增加两个影响因素导致的性能下降进行有效的分离是拟解决的关键问题。 四、拟解决的关键问题与拟采用的技术路线 拟采用的技术路线： 用滑动平均(MA)模型描述闭环多变量过程,如式(1)所示。 其中， 是零均值,协方差为 的白噪声。最优i步预测误差： 定义变量： 是到时刻i闭环脉冲干扰响应的误差平方和，考虑将预测控制器在某段时间达到的最优预测性能作为性能基准，其中最优预测性能，即Huang等人(2003)提出的多步预测误差: (1) (2) (3) （1）基于多步预测误差的MPC次优性能指标 (4) 当 时， 。 对于预测控制系统，用 作为性能基准，则预测控制系统次优性能指标定义如下： 和 分别为预测控制性能基准的上限和下限，d为关联阵的阶次，v为关联矩阵中q的最大次数与最小次数之差。 (5) (6) (7) (2) 基于特征子空间距离的MPC控制回路的性能监控方法。 图1 MPC控制回路结构图 选取需要监控的数据集如下： (8) 在基于数据驱动的协方差的性能监控方法中，可以得到如下性能指标： (9) 将所有满足 的特征值 按从大到小排列，相应特征向量对应 排列，确定恶化性能子空间。 图2 MPC控制回路性能监控流程图 定义两个子空间之间的距离：子空间 中任一单位向量与 的距离的最大值。确定两个子空间距离计算公式为： 为 对应的最小特征值。 (10) 对于MIMO闭环系统结构，假设系统时滞大于等于1，由反馈不变原则，利用日常操作数据可以得到如下正交投影： (11) (12) (13) 是立于 ， 因此可以通过常规运行的数据估记出 模型的质量指标为： 式中e为实际过程中的预测误差 MPC关键性能指标如下： 假设 ，则可将上式进行分解得到： （3）基于模型残差的MPC多因素性能源诊断方法 图3模型残差正交投影图 (14) (15) 令 (15.1) (15.2) (15.3) 式（15.1）为