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采购货物一览表 第一包： 200kV 场发射透射电子显微镜系统 序号 设备名称 技术指标 单位 数量 一、主机部分 工作条件 1.1 电力供应： 220V（ 10%）， 50Hz 1.2 工作温度： 15 C-25 C 1.3 工作湿度： 80% 1.4 直流磁场： 125 nT 1.5 安装条件：设备接地线电阻≤ 0.4 欧姆。 1.6 仪器运行的持久性：仪器可连续使用。 200kV 场发 射透射电子 1 显微镜系统 （进口）  设备用途： 科研 技术规格 3.1 分辨率 *3.1.1 点分辨率：≤ 0.24n m 3.1.2 线分辨率：≤ 0.10 2nm *3.1.3 信息分辨率：≤ 0.1 4nm 3.2 加速电压 3.2.1 加速电压：最高： 200kV；最低： 20kV；加速电压全程范围内切换仅需通过 软件完成。 3.2.2 高压稳定性：≤ 1 ppm/10min 3.3 电子枪 3.3.1 电子枪类型：肖特基场发射电子枪 3.3.2 束流： 1nm束斑电流 ： 0.6nA 3.3.3 束斑漂移： 1nm/min 台 1 3.4 最小束斑尺寸 3.4.1 透射模式 (TEM)：≤ 2 nm *3.4.2 汇聚束模式：最小束斑 ≤ 0.3 nm 3.5 照明模式 3.5.1 两种照明模式： 平行光模式和汇聚束模式。 每种模式下各有 11 种束斑尺寸， 大小可调。 *3.5.2 照明模式间切换： 仅需通过软件完成。 切换后系统稳定所需时间仅为几十 秒。 *3.6 物镜 3.6.1 球差系数：≤ 1.2 mm 3.6.2 色差系数：≤ 1.2 mm 3.6.3 最小聚焦步长：≤ 1.8nm 3.7 放大系统 3.7.1 放大倍数：最小 25 倍；最大 ≥1,000,000 倍 3.7.2 放大倍数重复性： 5% 3.8 相机长度：最小 ≤ 30mm；最大 ≥ 4,500mm *3.9 样品台 3.9.1 低背景双倾样品台最大倾斜角度： 40 3.9.2 样品移动范围： X,Y ≥ 2 mm ；Z : 0.375 mm 3.9.3 样品移速率（使用标准样品杆） ：≤ 0.5nm/min 3.10 扫描透射 (STEM) *3.10.1 分辨率： 0.19 nm 3.10.2 探头：高角环形暗场探头（ HADDF） *3.10.3 TEM 与 STEM模式相互切换后所需热稳定时间仅为几十秒 3.10.4 STEM 放大倍数范围 150x - 230Mx 3.11 X 射线能谱仪技术规格 2 Si(Li) 探测器 ( 用于 TEM) 30mm自动可伸缩 3.11.1 设备用途：用在 TEM上，对材料的微区成分进行定性和定量分析 3.11.2 (*) 探测器：液氮制冷锂漂移硅Si(Li) 自动可伸缩探测器 (r-TEM) ： 1）探 头前端无快门之类异物， 避免对 TEM物镜磁场的影响； 2）探测晶体最大限度地接 近试样，确保最大的接收立体角和计数率； 3) 计数率超过额定值时能在两秒种内 自动收缩，保护探头； 4) 采用金属波纹管道密封，确保 TEM的高真空度。 3.11.3(*) 晶体活区面： 2 30mm 3.11.4 可分析元素范围： Be4~U92 3.11.5(*) 能量分辨率 (Mn-Ka) ：优于 136eV（标准） 3.11.6 (*) 免维护性：不用时勿需加液氮，并且断液氮和重新加液氮无须运行特 殊保护程序 3.11.7 谱仪硬件结构： 采用 32 位高速 PCI 总线，可处理最大计数率 : 500,000CPS， 输出最大计数率 100,000CPS 3.11.8 能谱应用软件特殊功能 : 可自动或手动进行元素谱峰识别，并可利用可视 化峰剥离技术验证重叠峰识别的正确性 3.11.9 薄膜试样定量分析方法 3.11.10 材料类：具有 Cliff-Lorimer K 因子校正，其中的 K 因子可以理论计算、 实验测量或者人工输入。定量分析具有吸收和荧光修正。用离子化合物方法来测量化合物试样的质量厚度，并把它用于吸收校正。 3.11.12 生物类：基于 Hall 模型的定量分析方法，并利用峰背比信息；修正来自 铜网和支持膜的背底。 3.11.13 计算机及数据处理系统 ( 最低配置 ) ：原装进口计算机工作站， 最低配置 : CPU/Intel Core 4 Duo 3.0GHz ，内存 /4GB，硬盘 500GB； 16 x DVD - RW 可读可 写光驱； 19”平板液晶显示器 ; 激光打印机 ; 操作系统及应用软件：原版 MS Windows XP， MS Office XP 。 3.1