晶振不起振的原因是什么？晶振失效分析.pdf

晶振不起振的原因是什么？晶振失效分析 背景介绍 该型号晶振失效发生在客户端，失效形式主要表现为显示异常，使用周期一般为（ 6~12 ） 个月， 失效比例约为万分之六。 据客户反馈， 晶振的存储和使用环境按照一般行业标准来执 行，其中湿度为（ 30~70 ）%RH ；组装方式为典型的 SMT 贴片组装。 外观检测 考虑到损伤可能隐藏在外表之下， 取一颗失效样品对其表面进行简单研磨， 发现晶振表面存 在局部破损，见图 4 。破损的存在，说明失效晶振的密封性可能存在问题，后续需要对其结 构完整性及密封性进行检验和测试。 样品 MX150817015-01 研磨后的典型外观 通电测试 利用晶体参数测试仪对晶振相关参数进行测试，测试条件如下： Reference Fr: 16.0MHz; Reference CL: 5 pF; Power Applied: 100 μW. 测试结果显示： 其中一颗失效晶振 （3# ）是正常的， 其余失效晶振均表现为谐振阻抗偏大， 其中 1# 和 2# 非常明显； 4# 样品谐振阻抗处于临界值。失效现象与客户内部测试结果相一 致。 表 1. 失效 / 正常晶振电参数测试结果 测试样品 Freq. Range Resonant 评判结果 (MHz) Impedance ( Ω) 正常晶振 1# 16.01 16.02 合格 2# 16.01 21.00 合格 失效晶振 1# 16.01 2372.4 不合格 2# 16.03 291.08 不合格 3# 16.00 0.07 合格 4# 16.02 43.63 不合格