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目录
1前言(绪论)
2总体方案设计
1方案比较
1. 1方案一:长期寿命测试
2.1.2方案二:加速(短期)寿命测试 2.2方案论证
3单元模块设计
1各单元模块功能介绍及电路设计
1. 1热阻(R。)的测量
3. 1. 2结温测量
3. 1.3光通量的測量
3. 1.4串口电路的设计
3.1.5温度控制和报警电路设计....
3. 1.6过零触发电路设计
3.2电路参数的计算及元器件
3.2.1 LED灯常用电路参数
3.2.2电学特性
3. 3特殊器件的介绍
1 ADM3251E
3. 3. 2 ADUC848
3 555芯片
4各单元模块的联接
4软件设计
1 PROTEL99 SE 简介
2软件设计结构及功能
5系统调试
6系统功能及指标参数
6.1说明系统能实现的功能
6.2系统指标参数测试及测试方法说明
6.2.1失效时间和失效数的确定 6.2.2数据处理方法
6.3系统功能及指标参数分析
7结论
8总结与体会
9参考文献
附录1:相关设计图
附录2:元器件清单表
附录3:相关设计软件
1前言(绪论)
1986年,在蓝宝石基底上沉积高品质GaN晶体获得成功,并且在1993年开发出 了高亮度蓝光发光二极管(LEDs) o至今,人们仍在对髙亮度蓝光LED进行不断地完 善。在1996年,开发出了采用蓝光LED与黄色荧光粉相结合发出白光的LED产品并 将其商业化[1]。21世纪照明METI国家(Akari)项目是一项基于高效率白光LED照 明技术的工程,它利用的是近紫外线LED与荧光粉系统相结合的方法,该项目于1998 年启动,其第一阶段的项目已于2004年完成。
作为电子元器件,发光二极管(Light Emitting Diode-LED)已出现40多年,但 长久以来,受到发光效率和亮度的限制,仅为指示灯所釆用,直到上世纪末突破了技术 瓶颈,生产出高亮度高效率的LED和兰光LED,使其应用围扩展到信号灯、城市夜景工 程、全彩屏等,提供了作为照明光源的可能性。随着LED应用围的加大,提高LED可靠 性具有更加重要的意义。LED具有高可靠性和长寿命的优点,在实际生产研发过程中, 需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高LED芯片 的可靠性水平,以保证LED芯片质量,为此我司在实现全色系LED产业化的同时,开发 7 LED芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等,以提高寿命试验的科学性和结果的 准确性。
近些年来,LED照明因具有许多优点,例如长寿命、低能耗、体积小等而非常有吸 引力。最早LED只是被用来替换小型白炽灯充当指示器。在其光效有所提高后,LED被 应用于显示器中。随着其光效和总光通量的进一步改善,LED开始被应用于日常照明领 域。对于普通照明设备而言,LED有限的光通量是一个难以解决的问题。要想获得高光 通量就需要有高密度基底和大的工作电流。这将导致LED产生热量、温度升高,损坏 LED模块。
随着LED生产技术水平的提高,产品的寿命和可靠性大为改观,LED的理论寿命为 10万小时,如果仍釆用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性 做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰 减状况,进而推断其寿命。
本设计介绍了 LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消 除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用 科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。
2总体方案设计
LED的发光过程包括三个部分:正向偏压下的载流子注入、复合辐射和光能传 输。由此可见,LED主要靠载流子的不断移动而发光的,不存在老化和烧断的现象, 其特殊的发光机理决定了它的发光寿命长达5 - 10万个小时。
LED的寿命主要取决于LED芯片的质量、芯片的设计和芯片的材料。直接影 响LED寿命的关键因素有两个:一是果动电流的变化一一达到某个阈值以后, 启动LED的电流越高,发光发热就越多:二是工作环境温度一一温度越高,出 光就越少。此外,LED灯具的安装及固定方式对其寿命也有很大的影响。
LED芯片对温度异常敏感,这也是半导体的共性。一般用LED照明光源光通 量流明值下降到初始值的50%的时间来定义其寿命。50%就是LED的半衰期,例如, 巾5LED在室温情况下,在20 mA电流驱动下的寿命为10万小时,也就是说10万 小时
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