纳米粒子粒径评估方法.ppt

纳米微粒分析技术;;几个基本概念;几个基本概念;5.1 常用的方法粒径评估的方法;5.1.1透射电镜观察法 ;5.1.1 透射电镜观察法 ;透射电镜的结构;;;高分辨透射电子显微镜;5.1.1透射电镜观察法 ;;5.1.1透射电镜观察法注意的问题 ;5.1.2 X射线衍射线线宽法(谢乐公式);;5.1.2 X射线衍射线线宽法(谢乐公式);谢乐公式计算晶粒度时注意的问题;;这说明制备的粒子是纳米级晶粒。 可根据谢乐公式计算粒子尺寸。 d =0.89*λ/Bcosθ 或 d =0.89*λ/(B-B0)cosθ 计算半峰宽要使用弧度,2θ转化为θ。 0.386 o ---------0.00674 0.451 o --------0.00787 计算晶粒粒径时要求2θ,小于50 o。 d1=21.1(nm) d2=18.3(nm) d=(d1+d2)/2=19.7(nm);3 比表面积法;3 比表面积法;把Vm换算成吸附质的分子数(Vm/Vo·NA)乘以一个吸附质分子的截面积Am,即可用下式计算出吸附剂的表面积S : 式中,Vo为气体的摩尔体积;NA为阿伏伽德罗常量. 固体比表面积测定时常用的吸附质为N2气。一个N2分子的截面积一般为0.158nm2. 为了便于计算,可把以上3个常数合并之,令Z=NA Am/Vo.于是表面积计算式便简化为 S = Z Vm = 4.25Vm. 因此,只要求得Vm,代人上式即可求出被测固体的表面积. ;4 X射线小角散射法;5 拉曼(Raman)散射法;6 探针扫描显微镜 ;6.1扫描隧道显微镜(STM);6.1扫描隧道显微镜(STM);;6.2 原子力显微镜的基本原理 ;;;;;;原子力显微镜的硬件结构;;位置检测部分;;反馈系统 ;反馈系统 ;7 激光粒度分析法;光子相关谱;光子相关谱;7 激光粒度分析法 ;7 激光粒度分析法;7 激光粒度分析法 ;;此课件下载可自行编辑修改,供参考! 感谢您的支持,我们努力做得更好!

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