纳米微粒分析技术;;几个基本概念;几个基本概念;5.1 常用的方法粒径评估的方法;5.1.1透射电镜观察法 ;5.1.1 透射电镜观察法 ;透射电镜的结构;;;高分辨透射电子显微镜;5.1.1透射电镜观察法 ;;5.1.1透射电镜观察法注意的问题 ;5.1.2 X射线衍射线线宽法(谢乐公式);;5.1.2 X射线衍射线线宽法(谢乐公式);谢乐公式计算晶粒度时注意的问题;;这说明制备的粒子是纳米级晶粒。
可根据谢乐公式计算粒子尺寸。
d =0.89*λ/Bcosθ 或 d =0.89*λ/(B-B0)cosθ
计算半峰宽要使用弧度,2θ转化为θ。
0.386 o ---------0.00674
0.451 o --------0.00787
计算晶粒粒径时要求2θ,小于50 o。
d1=21.1(nm)
d2=18.3(nm)
d=(d1+d2)/2=19.7(nm);3 比表面积法;3 比表面积法;把Vm换算成吸附质的分子数(Vm/Vo·NA)乘以一个吸附质分子的截面积Am,即可用下式计算出吸附剂的表面积S :
式中,Vo为气体的摩尔体积;NA为阿伏伽德罗常量.
固体比表面积测定时常用的吸附质为N2气。一个N2分子的截面积一般为0.158nm2.
为了便于计算,可把以上3个常数合并之,令Z=NA Am/Vo.于是表面积计算式便简化为
S = Z Vm = 4.25Vm.
因此,只要求得Vm,代人上式即可求出被测固体的表面积.
;4 X射线小角散射法;5 拉曼(Raman)散射法;6 探针扫描显微镜 ;6.1扫描隧道显微镜(STM);6.1扫描隧道显微镜(STM);;6.2 原子力显微镜的基本原理;;;;;;原子力显微镜的硬件结构;;位置检测部分;;反馈系统;反馈系统;7 激光粒度分析法;光子相关谱;光子相关谱;7 激光粒度分析法 ;7 激光粒度分析法;7 激光粒度分析法 ;;此课件下载可自行编辑修改,供参考!
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