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材料研究方法课后习题答案 材料研究方法课后习题答案 第一章 绪论 1. 材料时如何分类的？材料的结构层次有哪些？ 答：材料按化学组成和结构分：金属材料、无机非金属材料、高分子材料、复 合材料 材料的结构层次有：微观结构、亚微观结构、显微结构、宏观结构。 2.材料研究的主要任务和对象是什么？有哪些相应的研究方法？ 答：任务：研究、制造和合理使用各类材料。 研究对象：材料的组成、结构和性能。 研究方法：图像分析法、非图形分析法：衍射法、成分谱分析。 成分谱分析法：光谱、色谱、热谱等； 光谱包括：紫外、红外、拉曼、荧光； 色谱包括：气相、液相、凝胶色谱等； 热谱包括： DSC、 DTA 等。 3.材料研究方法是如何分类的？如何理解现代研究方法的重要性？ 答：按研究仪器测试的信息形式分为图像分析法和非图形分析法； 按工作原理，前者为显微术，后者为衍射法和成分谱分析。 重要性： 1）理论：新材料的结构鉴定分析； 2 ）实际应用需要：配方剖析、质量控制、事故分析等。 2 3 成了与光程差相对应的特殊混合色，称为干涉色。 影响干涉色的因素：光程差的大小影响干涉色的颜色；α角影响干涉色的 亮度。 光的干涉条件：两束光振动频率相同，均同一平面内振动，且存在光程差。 10.如何利用锥光镜鉴定晶体的光性和轴性？（了解） 答：光性的鉴定：鉴定一轴晶晶体的光性可利用相应补色器，通过确定黑十字 所划分的四个象限或黑直臂两侧所对应的象限中光率体的分布形式来确定；在 二轴晶晶体切片中，由黑十字或黑直臂位转动物台 45°时，黑弯臂的顶点即光 轴出露点，此时与光轴面垂直方向即为 Nm，此时可以利用补色器，通过鉴定两 光轴出露点连线平行于 Ng 或 Np 来确定是哪根光率体主轴，即可确定二轴晶光 率体光性。 轴性的鉴定：在锥光镜下，一轴晶和二轴晶晶体的干涉图像明显不同，对于 一轴晶来说，转动物台，呈现的是黑十字或黑直臂交替出现，不出现弯曲的黑 臂；对于二轴晶来说，则呈现黑十字与弯臂交替出现的干涉图像。 11.如何提高光学显微分析的分辨能力？ 答： 1）选用更短的波长； 2 ）采用折射率很高的材料； 3 ）增大显微镜的孔径角。 12.阐述光学显微分析用光片制备方法。 答： 1）取样：取样部位应有代表性，应包含所要研究的对象并满足研究的特定 要求； 2 ）镶嵌：对形状特殊或尺寸细小而不易握持的样品，需进行样品镶嵌； 3 ）磨光：去除取样时引入的样品表层损伤，获得平整光滑的样品表面； 4 ）抛光：去除细磨痕以获得平整无疵的镜面，去除变形层； 5 ）浸蚀：清晰显示出材料的内部组织。 13.分析近场光学显微分析的原理及与传统光学显微分析的异同。 答：原理：在近场探测中，必须将探测器位于距物体一个波长以内的位置上， 4 在场传播以前将其俘获，因此近场探测器位于距离物体表面纳米尺寸的位置上， 既能移动又不碰到样品，所以只能使用点状探测器逐点成像的方法。这种点状 探测器首先将纳米尺寸的局部光信号收集，将其转变为电流，或者再发射到自 由空间，或者以波导的方式将其传播到探测系统，将逐点采集的信息扫描成为 二维图像。 异同： 1）照明光源的尺度和照明方法：传统光学显微镜用扩展光源在远场照明样 品；近场官学显微镜用纳米局域光源在纳米尺度的近场距离内照明样品； 2 ）成像方法：传统光学显微镜用肉眼或成像仪器直接观察或接受放大的图 像，近场光学显微镜用扫描技术使局域光源逐点网格状照明样品，然后由光电 接收器接受光信号，借助计算机将图像勾画出来。 3 ）近场光学显微镜用探针来照