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SPC培训教程一、持续改进及统计过程控制概述二、SPC基础三、计数型数据控制图?John Z. Rao 2001raozhong@163.net产品质量波动及其统计描述连续计量值产品质量特性定量离散计数值计数值定性计件值?John Z. Rao 2001raozhong@163.net变 异误差 ?=X-X0偶然性误差：误差大小和方向的变化是随机的。系统性误差：误差大小和方向的变化保持不变或按一定规律变化。过程控制中常用精度这个概念来反映质量的波动（变异）程度。?John Z. Rao 2001raozhong@163.net精 度精度又可分为：准确度(Accuracy)：反映系统误差的影响程度；精密度(Precision)：反映偶然误差的影响程度；精确度(Uncertainty)：反映系统误差和偶然误差综合的影响程度?John Z. Rao 2001raozhong@163.net精度的概念准确度好精密度好系统误差小偶然误差小准确度差精密度高系统误差大偶然误差小准确度高精密度差系统误差小偶然误差大准确度差精密度差系统误差大偶然误差大?John Z. Rao 2001raozhong@163.net持续改进及统计过程控制概述预防与检测过程控制系统变差：普通原因及特殊原因局部措施和对系统采取措施过程控制和过程能力过程改进循环及过程控制控制图：过程控制工具控制图的益处?John Z. Rao 2001raozhong@163.net持续改进及统计过程控制概述之一检测与预防过程控制的需要检测—容忍浪费预防—避免浪费?John Z. Rao 2001raozhong@163.net持续改进及统计过程控制概述之二过程控制系统有反馈的过程控制系统模型统计方法过程的声音产品或服务 人 ? 设备 ? 材料 ? 方法 ? 环境 ? 我们工作的方式资源的融合顾客?输入?过程/系统?输出识别不断变化的需求和期望顾客的声音?John Z. Rao 2001raozhong@163.net持续改进及统计过程控制概述之三变差的普通原因及特殊原因?John Z. Rao 2001raozhong@163.netSPC基础SPC (Statistical Process Control) 统计过程控制：利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而得到保证产品质量的目的。二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(Process Control)理论极其监控过程的工具—控制图(Control Chart)形成SPC的基础，后扩展到任何可以应用的数理统计方法。控制图(Control Chart)：对过程质量特性记录评估，以监察过程是否处于受控状态的一种统计方法图。1924年5月6日休哈特提出的不合格样品率P控制图为世界第一张控制图。?John Z. Rao 2001raozhong@163.net产品质量的统计观点一产品质量具有变异性 影响产品质量的因素有6M Man: 人 Machine: 机 Material: 料 Method: 法 Mother-nature: 环 Measurement: 测无论人类社会如何进步发展，产品质量不可能保持绝对恒定，一定具有变异性。?John Z. Rao 2001raozhong@163.net产品质量的统计观点二产品质量的变异具有统计规律性 确定性现象，确定性规律：在一定条件下，必然发生或不可能发生的事情。如一个大气压（760mm汞柱）下，H2O的变化规律。 温度? 0℃ 固体状态 温度 0 ℃ t 100 ℃ 液体状态 温度 ? 100 ℃气体状态随机现象，统计规律：在一定条件下事件可能发生也可能不发生的现象。如我们无法预知内存电性能测试合格率大于99%，但大量统计数据证明有99%的可能性大于99%。?John Z. Rao 2001raozhong@163.net正态分布分布(distribution)：用来描述随机现象的统计规律，说明两个问题：变异的幅度有多大；出现这么大幅度的概率。计量特性值：如PCB金手指厚度、重量或时间等连续性数据，最常见的是正态分布(normal distribution)。计件特性值：如内存合格/不合格两种离散性数据，最常见的是二项分布(binomial distribution)。 计点特性值：如每条内存上少锡点数等离散性数据，最常见的是泊松分布(Poisson distribution)。由于二项分布和泊松分布数据数理统计理论较复杂，以下讨论以正态分布为例。?John Z. Rao 2001raozhong@163.net正态分布直方图(histogram)：在横轴上以样本数据每组对应的组距等距离线段为底，纵轴表示样本数据落