线性系统的根轨迹分析-自控实验报告.pdfVIP

装 订 线 线性系统的根轨迹分 实验名称 析 预定时间 实验时间 姓名学号 授课教师 实验台号 19 专业班级 装 订 一、目的要求 线 1 ．根据对象的开环传函，做出根轨迹图。 2 ．掌握用根轨迹法分析系统的稳定性。 3 ．通过实际实验，来验证根轨迹方法。 二、原理简述 绘制根轨迹 (1) 由开环传递函数分母多项式 S(S+1)(0.5S+1)中最高阶次 n＝ 3，故根轨迹分支数 为 3 。开环有三个极点： p1＝ 0， p2＝－ 1， p3＝－ 2 。 (2) 实轴上的根轨迹： ① 起始于 0 、 － 1、 － 2 ，其中－ 2 终止于无穷远处。 ②起始于 0 和－ 1 的两条根轨迹在实轴上相遇后分离，分离点为 显然 S2 不在根轨迹上，所以 S1 为系统的分离点，将 S1＝－ 0.422 代入特征方 程 S(S+1)(0.5S+1)＋ K 中，得 K ＝ 0.193 (3) 根轨迹与虚轴的交点 将 S = j W 代入特征方程可得 ： 1 装 订 线 根据以上计算，将这些数值标注在 S 平面上，并连成光滑的粗实线，如下图所示。 图上的粗实线就称为该系统的根轨迹。其箭头表示随着 K 值的增加，根轨迹的变化趋 势，而标注的数值则代表与特征根位臵相应的开环增益 K 的数值。 根据根轨迹图分析系统的稳定性 根据图 2.1 -3 所示根轨迹图，当开环增益 K 由零变化到无穷大时，可以获得系统 的下述性能： R＝ 500/K (1) 当 K ＝ 3； 即 R＝ 166 K Ω 时，闭环极点有一对在虚轴上的根，系统等幅振 荡，临界稳定。 (2) 当 K 3 ； 即 R 166 K Ω 时，两条根轨迹进入 S 右半平面，系统不稳定。 (3) 当 0 K 3 ； 即 R 166 K Ω 时，两条根轨迹进入 S 左半平面，系统稳定。 三、仪器设备 PC 机一台， TD-ACC+( 或 TD-ACS) 实验系统一套。 2 装 订 线 四、线路示图 实验对象的结构框图： 模拟电路构成： 五、内容步骤 1 ．绘制根轨迹图： 实验前根据对象传函画出对象的根轨迹图， 对其稳定性及暂态性 能做出理论上的判断。并确定各种状态下系统开