源活度测量课件.pptVIP

α、β源活度的测量 李小乐 目录 1.概述 2.α放射源活度的测量 3. β放射源活度的测量 4. 液体闪烁计数器测源活度 放射性活度的测量及标定，在核物理及核技术应用中有着很重要的地位。它涉及面广，活度范围很大，所以测量方法也需因地制宜。 概述 1 1.源活度及其单位 2.绝对测量和相对测量 放射性活度：是放射性核素在单位时间内原子核衰变数目的量度。 放射性活度的单位：贝可 、居里 绝对测量：用测量装置直接测量放射性核素的衰变数，不必依赖于其它标准样品或标准仪器的比较（注：需对影响测量结果的许多因素作修正） 相对测量：用一个活度已知的标准源与待测样品在相同条件下测量，根据它们测量的量值之比值和标准源活度值即可算出待测源的活度 原理：假定放射源各向同性地发射出粒子，而测量仪器的效率是已知的，则通过记录一定立体角内的 粒子记数率便能推算出源的活度。 2 一、薄源活度的绝对测量——小立体角法 设放射源活度为A,每衰变放出一个α粒子,测到的计数率为 n ,本底计数率为 nb ,则净计数率为： 为探测器对源所张的相对立体角，又称几何因子，记为 。 点源的立体角及几何因子为： （8.1） （8.5） 实际情况中，源面积总有大小。一般源的半径 和源到准直孔距离 相比不能忽略，这时的几何因子可用下面的公式来计算： 注：应用净记数率公式计 算α 源活度时要注意测到的记数率 n 必须对分辨时间τ进行修正。 应用（8.1）式来计算源活度时需注意到 必须对分辨时间进行修正，所以设装置的分辨时间为 ，测到的记数率为 ，则真正进入计数管的粒子数应为： 分辨时间修正因子 ： 则放射源活度为： （8.7） 2 二、厚样品的放射性比活度测量 以 点为顶点在 圆锥内发射的 粒子 占 点发射的 粒子总数的份额为： 比放射性（ ）：即每克样品的放射性活度。 于是，深度为 的薄层 中发射的 粒子中，能射出样品表面的粒子数就为： 上式对整个样品厚度的积分，便得到每秒内能射出样品表面的 粒子总数的 ： 当样品厚度 时，从表面出射的粒子数达到饱和。饱和出射率为： （8.12） 选择一种比放射性已知的样品作为标准，它与待测样品有相同的S和R，则： 其中 及 分别为待测样品及标准样品的 粒子表面出射率。 再由样品的质量M可得总的放射性活度A： 3 一、 小立体角法测β放射源活度 原理：对小立体角装置的基本要求是能最大限度地消除、减少影响测量准确度的因素。 缺点：小立体角法方法简单，但修正因子多，误差较大。 定义小立体角装置的总探测效率 ，它是测到的计数率与源衰变率之比。 （其中，A为源的活度， 为净计数率， 为计数率， 为本底计数率） 与探测效率有关的诸因子 装置的总绝对效率可以写成许多因子的乘积： 几何因子 分辨时间修正因子 坪修正因子 反射修正因子 吸收修正因子 计数管的本征效率 计数修正因子 几何因子 分辨时间修正因子 坪斜修正因子 ： 造成坪斜的原因：工作电压的增高，计数管内的假计数亦增加。 反射修正因子 ： c 饱和反散射系数：饱和时的反散射修正因子 饱和厚度：刚达到饱和时的承托膜厚度 吸收修正因子 ： 包括：自吸收、空气吸收、窗吸收、源保护膜吸收、源与计数管间吸收片的吸收 计数修正： （其中： 为质量吸收系数； 为总吸收厚度。） 计数管的本征效率 ：G-M计数管的本证效率可认为是100% 3 二、4π 计数法 原理：把放射源移到计数管内部，使计数管对源所张的立体角接近于4π ，减少散射、吸收及几何位置等的影响。 源承托膜吸收修正 源自吸收修正 承托膜吸收掉的粒子数： 膜吸收修正因子 ： 方法：A：外推法 B：子体标记法 求出修正因子后，便可算出活度： 3 三、符合法测源的活度 当两个探测器中有一个探测器对放射源各点的探测效率都相等时： （ 即为放射源活度。） （8.34） 其他需要修正的 符合测量中的各修正因子 a.本底修正： （ ，即包含真符合计数率和偶然符合计数率。） b.