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- 2021-10-03 发布于山西
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瑟米莱伯(贸易)上海有限公司
上海市浦东新区商城路 889 号波特营 B2 幢 3 层
Tel: +86-21 Fax: +86-21
WXT 系列
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瑟 米 莱 伯 贸 易 ( 上 海 ) 有 限 公 司
上 海 市 浦 东 新 区 商 城 路 8 8 9 号 波 特 营 B2 幢 3 层
phone +86-21-fax +86-21
e-mail semilab@ web
WMT系列是 Semilab 公司一种在线式测试模组,广泛应用于光伏和半导体行业硅片的质量
控制,电池工艺过程质量控制,以及实验室和试验线的研发,提供了无接触、无损伤的全自动
连续测试和快速的数据处理。
本文档主要对 WMT 的测试原理和操作流程加以介绍。
如有问题请与我们联系,竭诚为您服务。
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1. 简介
WMT 系列是 Semilab 公司无接触硅片电阻率 (涡流法)、厚度 (电容法)和 P/N 型号 (表
面光电压法)连续在线测试模组。 WMT 提供 1 ‐3 点连续测试,并可以根据需要自动分类,模
组测试速度快、精度高且重复性好。广泛应用于硅片厂商的出厂检验、自动分选以及电池厂商
的来料质量控制。
2. 原理
2.1 涡流法电阻率测试原理
W afe r
图 2-1
涡流法测试电阻率过程示意图如图 2-1 所示。样品放置在对中的传感元件或换能器之中,
换能器为施加高频磁场的高磁导率的磁体。硅在高频磁场中产生感生电流,此电流的流通方向
呈闭合漩涡状,称涡电流或涡流。样品中的涡流消耗能量,为保持高频振荡器的电压不变,高
频电流将增加。样品电阻越低,高频电流的增量越大,呈反比。测量电流值,可以获得样品的
方块电阻或电阻率。
2.2 电容法厚度测试原理
电容法厚度测量的基本原理就是平板电容器的电容计算公式:对于由两个平行导体平板组
成的、中间是空气的电容器,其电容与平板的面积成正比,与两平板间的间距成反比。在测量
硅片的厚度时,硅片与测试电极构成一个电容器
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