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第 第 PAGE 1 页 共 NUMPAGES 1 页 测试技术协议 测试技术协议 　　测试技术协议 上海集成电路设计研究中心(甲方)和XXXXXXXXXXXXX公司(乙方)经友好协商，对XXXXXXXX项目的有关测试技术指标问题达成如下协议： 一：乙方应在本协议签定 天内将芯片资料，测试码提供给甲方。 二：甲方在乙方提供封装好的芯片后 天内，将测试分析结果提交给乙方。 三：具体测试要求 甲方按乙方要求，在测试时将PA4、PA5、PA6、PA7端经3.3K电阻上拉至5伏。 甲方在测试分析时，应让XXXX芯片工作在5V。 乙方提供XXXX功能测试码文件(TXT格式)两份。 甲方使用乙方提供的功能测试码文件，在1MHZ下对样品进行测试分析。 乙方认为正常情况下，样品的功能测试应全部通过，参数测试结果应在下表给定的范围内。 测试参数(常温) 测试条件 最大值 典型值 最大值 单位 静态工作电流 VDD=5V uA 动态工作电流 VDD=5V uA 输入高电平电压 VDD=5V V 输入低电平电压 VDD=5V V 输入高电平电流 VDD=5V,VIH=5V uA 输入低电平电流 VDD=5V,VIL=0V uA 输出高电平电压 VDD=5V V 输出低电平电压 VDD=5V V 输出高电平电流 VDD=5V,VOH=