《无损检测》基于CT技术的工业无损探伤.pptx

精密计量与测试 课程项目报告 基于CT技术的工业无损探伤 CT技术简介 CT是Computed Tomography 的缩写, 即是 计算断层成象技术. 是电子计算机与 X射线 断层扫描相结合的产物 CT技术简介 且CT成像技术是与一般辐射成像完全不同 的成像方法 一般辐射成像是将三维物体 投影到二维平面成像 各层面影像重叠 造成相互干扰 不仅图象模糊 且损失了 深度信息 不能满足分析评价要求 CT是 把被测物体所检测断层孤立出来单独成像 避免了其余部分的干扰和影响 图象质量 高 能够清晰 准确地显示所检测部位内 部的结构关系 物质组成及缺陷状况 检 测效果远远高于其他传统的无损检测方法 CT技术的基本原理 CT是一种绝好的成像技术 物理基础 田 数学支撑 具有支撑它的数学 早在1917年 丹麦数学家雷当 J.Radon 研究工作为CT技术建立了数学理论基础 他从 数学上证明了 某种物理参量的二维分布函数 由该函数在其定义域内的所有线积分完全确定 该研究结果的意义在于 只要能知道一个未知 二维分布函数的所有线积分 那么就能够求得 该二维分布函数 所谓获得CT断层图象 就是 求取能够反映断层内部结构和组成的某种物理 参量的二维分布 因此 CT机的任务就是求取 能够反映被检测断层内部结构组成的物理参量 二维分布函数的线积分 (x, y)dxdy  In 0 I CT技术