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Equipment Manufacturing Technology No.04 ，2017
红外焦平面组件典型参数测量不确定度评定
徐迎春，刘 冲，阚劲松，王 酣
中国电子技术标准化研究院，北京100176）
（
摘 要：针对国内红外焦平面产业发展现状，选取典型红外焦平面组件测试系统测试典型红外焦平面组件，对其典型参
数进行不确定度评定。通过建立数学模型，分析计算影响测量不确定度的各个分量，分析不确定度的各个分量的合成方
式，最后给出扩展不确定度。
关键词：红外焦平面组件；数学模型；测量不确定度
中图分类号：TP274 文献标识码：A
在强烈的军事应用需求推动下，国内红外探测 表1 测试系统主要技术指标
器在向大规模、高集成和高分辨率的红外焦平面阵 模块 主要技术指标
列发展。在航天和航空领域，红外焦平面组件作为关 时钟通道数：32 通道
存储容量：8Mbit/通道时钟
32 路时钟信号发生电路:
键器件，有着重要的国家战略需求。在对大规模、大 输出低电平：0 V ，高电平：1.8 V,2.5 V,3.3 V,5 V
时钟频率：最高50 MHz
阵列的红外焦平面组件的测试中，红外焦平面参数 偏压通道数：4 通道，每通道4 路，共16 路
测试系统需对组件输出进行大规模的数据采集和数 16 路偏置电压发生电路：偏压输出范围：-10 V～+10 V
偏压分辨率：1 mV
学公式运算，并提供组件正常工作所需的各种偏置 AD 输入范围：0～5 V
AD 通道：4
电压和时钟脉冲。这导致影响红外焦平面组件参数 模数转换器 AD 动态范围：14 bit
AD 噪声：≤300 μV
测试结果的影响量比较复杂。给红外焦平面组件测 AD 模拟带宽：40 MHzAD
采样率：最高10 MHz
试参数测量不确定度的评定带来更大的挑战。 量程：-15 ℃~+15 ℃分
黑体辐照源
行业内红外焦平面组件参数测试主要依据GB/T 辨率：0.001 ℃
均匀性：＜0.3 ℃ （50 ℃）
17444-2013《红外焦平面阵列参数测试方法》。标准 发
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