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- 2021-10-24 发布于湖南
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2014 年 秋 季学期研究生课程考核
(读书报告、研究报告)
考 核 科 目: 材料显微分析实践报告
学生所在院(系) : 材 料 科 学 与 工 程 学 院
学 生 所 在 学 科: 材 料 工 程
学 生 姓 名: 郝 成 丽
学 号: 1 4 S 1 0 9 1 0 3
学 生 类 别: 应 用 型 硕 士
考 核 结 果 阅 卷 人
专业资料
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第 1 页 (共 19 页)
实验一 透射电镜的明暗场成像技术
一、工作原理
透射电子显微镜 (transmission electron microscope, TEM )是利用透射电子
成像,因而要求样品极薄(加速电压 100kV 时,样品厚度不能超过 100nm )。
其结构包括三大部分: 电子学系统、 真空系统和电子光学系统。 电子光学系统提
供电子束, 在高真空条件下照射到样品上, 经过成像系统中的物镜成像, 再经过
中间镜和投影镜的进一步放大, 获得的图像记录在 CCD 上。TEM 使用油扩散泵
(Diffuse Pump )来实现高真空。由于油扩散泵的启动和关闭都需要 30 分钟,
导致 TEM 开机和关机都至少需要 30 分钟。 TEM 发射出的高能电子束轰击到光
路元器件上以及样品上, 会产生以 X-ray 为主的等等其他射线辐射,因此建议孕
妇等过敏性体质者尽量避免接触 TEM 。
二、透射电镜样品的制备
在材料科学中,透射电子显微术是十分重要的研究法, 它可以观察各种材料,
研究它们的显微组织与性能之间的密切关系。 进行材料的电子显微镜观察, 首先
要将大块样品制成仅几百毫微米至几千毫微米厚的极薄 小片。
专业资料
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样品的要求:
1)样品必须对电子束是透明的,观察区厚度一般在 100-200nm 围;
2 )具代表性,能真实反映所分析材料的实际特征。
制备法很多, 取决于材料类型和所要获取的信息, 透射电镜样品可分为间接样品
和直接样品,制备法有:复型样品、薄膜样品、粉末样品。
1)复型(间接)样品的制备
在透射电镜发展的早期, 将透射电镜用于观察材料组织分析, 首先遇到的问
题是样品制备问题。因此,在 20 世纪 40 年代出现了“复型技术” 。
复型是指将样品表面的浮凸复制于某种薄膜, 可间接反映原样品的表面形貌特征
的间接样品。复型材料的要求: (1) 本身是无定型或非晶态的; (2) 具有足够的
强度、刚度,良好的导电、导热和耐电子束轰击性能; (3) 分子尺寸要尽
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