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材料分析方法考试资料(1)汇总 材料分析方法考试资料(1)汇总 PAGE / NUMPAGES 材料分析方法考试资料(1)汇总 《材料科学研究方法》考试试卷（ 第一套 ） 课程号 6706606030考试时间120 分钟 适用专业年级（方向）： 材料学、高分子 考试方式及要求： 闭卷、笔试 题 号 一 二 三 四 总分 得 分 阅卷人 一．名词解释（每题 2 分，选做 5 题，共 10 分，多答不加分） 基态 俄歇电子 物相分析 色散 振动耦合 热重分析 二．填空题（每空 1 分，选做 20 空，共 20 分，多答不加分） 1. 对于 X 射线管而言， 在各种管电压下的连续 X 射线谱都存在着一个最短的波长长值 0 ， 称为 ，当管电压增大时，此值 。 2. 由点阵常数测量精确度与 角的关系可知，在相同条件下， 角越大，测量的精确 度 。 对称取代的 S=S、C≡ N、 C=S 等基团在红外光谱中只能产生很弱的吸收带（甚至无吸 收带），而在 光谱中往往产生很强的吸收带。 根据底片圆孔位置和开口位置的不同，德拜照相法的底片安装方法可以分 为： 、 、 。 5. 两组相邻的不同基团上的 H 核相互影响，使它们的共振峰产生了裂分，这种现象 叫 。 德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于相机的半径误差、底片的伸缩误差、样品的 偏心误差和 。 7. 激发电压是指产生特征 X 射线的