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MIT5530阵列感应测井仪培训; 一. MIT5530仪器结构及技术指标 二. MIT5530仪器原始曲线质量控制 三. MIT5530测井不合格原始曲线 四. MIT5530仪器影响因素及处理流程 五. MIT5530资料处理质量控制;1; MIT5530线圈系由八个双侧布置的线圈子阵列组成，共用一个发射线圈；对每一子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈组成，两个接收线圈由主接收和屏蔽线圈组成。8个子阵列共测量28个原始测量信号，28个信号经过井眼校正、真分辨率聚焦和分辨率匹配后得到5种探测深度、3种组分辨率共15条曲线。;MIT5530子阵列： 每一子MIT5530子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈 组成，两个接收线圈分别为主接收线圈和屏蔽线圈。;线圈名称; 在感应测井中，仪器的响应特性用几何因子来描述，包括一维特性和二维特性。 一维特性用纵向微分几何因子、径向微分几何因子、径向积分几何因子描述； 二维特性用二维几何因子描述。传统双感应测井中主要使用一维特性，阵列感应测井是二维信号合成处理。 ;MIT一维径向微分响应特性 径向微分响应函数（径向微分几何因子），随子阵列线圈间距增加，最大峰值沿径向方向移动，短阵列具有浅的探测深度，井眼影响大；长阵列具有深的探测深度，井眼影响小。;MIT一维径向积分响应特性 径向积分响应函数（径向积分几何因子），不同子阵列具有不同的探测深度，具有不同的井眼影响。;一维纵向微分响应特性 纵向微分响应函数（纵向几何因子），8个纵向几何因子最大峰值关于发射点左右分布，左边是5个，右边是3个。短阵列具有较高的分辨率信息，随着线圈距的增加纵向高分辨率逐渐降低。;二维响应特性 二维响应特性反映空间各点对测量信号的贡献大小 井眼附近有正负峰值，不同程度受到井眼影响； 不同径向深度，响应函数具有不同的纵向分辨率，随着径向深度增加，纵向分辨率下降，即高分辨率信息来自井眼附近； 不同的纵向位置，响应函数变化很大，在主接收线圈位置，函数具有最大的正值，在屏蔽线圈位置，函数具有最大的负值； 短线圈间距子阵列具有高的分辨率，长线圈间距子阵列具有低的分辨率。 ;MIT子线圈几何因??（6、9、12、15）;MIT子线圈几何因子（21、27、39、72）;1.4 MIT5530阵列感应技术指标;1.5 MIT5530阵列感应仪器适应范围;阵列感应与双感应相比,具有以下优点： 测量信息多 纵向分辨率高（阵列感应能够提供0.3m,0.6m和1.2m 3种纵向分辨率曲线；常规双感应：中感应:0.8m 深感应:1.2m） 分辨率统一 径向探测深度大（中感应: 0.75m 深感应: 1.6m） 测量精度高，能够详细描述侵入剖面 准确确定地层真电阻率 ; 一. MIT5530仪器结构及技术指标 二. MIT5530仪器原始曲线质量控制 三. MIT5530测井不合格原始曲线 四. MIT5530仪器影响因素及处理流程 五. MIT5530资料处理质量控制;监控曲线QC判定 测井曲线合理性判定 ;;;;; 一. MIT5530仪器结构及技术指标 二. MIT5530仪器原始曲线质量控制 三. MIT5530测井不合格原始曲线 四. MIT5530仪器影响因素及处理流程 五. MIT5530资料处理质量控制;MIT5530常见问题： 原始曲线缺失字符 未安装间隔器 仪器预热不足 刻度文件加载错误 测井遇卡 硬件故障;名称;3.2 MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试;3.2 MIT5530阵列感应不同扶正器对短阵列影响;; 一. MIT5530仪器结构及技术指标 二. MIT5530仪器原始曲线质量控制 三. MIT5530测井不合格原始曲线 四. MIT5530仪器影响因素及处理流程 五. MIT5530资料处理质量控制; MIT5530测井影响因素: 温度影响 井眼影响 趋肤效应 围岩影响;原因: 温度的变化会导致三线圈系的距离发生微变，产生直耦（无用信号）变化。 解决措施：获取线圈系温度变化图版，进行温度校正 。;4.2 趋肤效应影响;井眼信号是下面因素的函数: 泥浆电导率Rm 井眼大小和形状 井中偏心距 地层电导率 解决措施：井眼校正;MIT5530测量信号会收到上下围岩的影响。 解决措施：真分辨率聚焦及分辨率匹配;MIT5530资料处理流程; 预处理：对阵列感应原始数据进行数据单位和采样间隔转换 等操作，保证输入数据统一规范。 ;井眼校正 阵列感应成像测井的测量会不同程度的受到环境井眼的影响，而且近接收子阵列与远接收子阵列受井眼影响程度不同，在描述径向地层电阻率时，近接收子阵列受到的影响较大，所以在合成处理