flash检测方法及其检测系统与流程.docxVIP

PAGE PAGE 1 flash检测方法及其检测系统与流程 1.本创造涉及存储技术领域，特殊是涉及一种flash检测方法及其检测系统。背景技术：2.soc（system on chip，片上系统）内部都有内嵌flash（闪存），一般用于存储用户的数据以及代码等。在芯片出厂前，需要对内嵌flash是否有坏块进行筛查，并需要将包含有坏块的芯片筛选出来进行标志。目前主流的筛查手段包括：通过测试访问端口（tap）发出指令对flash进行擦除、读写和校验，以对flash进行检测和筛选，如此以来，flash的擦除、读写和校验都是由芯片外部的机台通过tap来实现。但是，由于tap速度受限，芯片测试需要耗费大量时间。另外擦除、读写和校验程序都是由机台实现，需要测试工程师花费较多时间来调试测试程序。技术实现要素：3.本创造的主要目的在于供应一种flash检测方法及其检测系统，旨在提高芯片测试速度。4.为实现上述目的，本创造供应一种flash检测方法，包括以下步骤：s1、检测芯片内部是否包括flash存储器：若否，则结束检测；若是，则进入步骤s2；s2、读取所述flash存储器的存储内容；s3、将所述flash存储器内的存储内容通过预设的计算方法进行计算，并将存储内容计算结果与预存的校验值进行对比；s4、推断所述存储内容计算结果与所述校验值是否相同：若不