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IGBT的设计与仿真;主要内容;1.研究内容简介;元胞结构;2.设计指标;3.研究设计方案;4.工艺流程设计;5.主要工艺指标;表2 主要工艺步骤与工艺条件列表:;6.器件仿真; 根据北工大陆秀洪硕士论文的结果:
(1)背面三重扩散的残留层厚度越薄、IGBT的功耗就越小;
(2)表面掺杂浓度越低,IGBT的功耗就越小;
(3)背扩散层的残留层厚度对于IGBT的功耗的影响比背扩散层的表面掺杂浓度要大的多。
选取背面残留层厚度为20um,表面浓度1E16。
使用高斯方程和扩散长度计算公式算得其扩散长度为:9.76um
背面注入使用常数掺杂模拟其结深为:0.4um,浓度为1E17。
;7.主要器件指标仿真结果;;工作电流计算
单个元胞的工作电流
约为2.5E-5 A
要达到工作电流10A,需
要40000个元胞的阵列,
也即200×200,这样元胞
阵列的面积为8mm*8mm。;导通电阻计算:
由于ISE-TCAD中的
DESSIS只能仿真单
个元胞,从单个元胞
的斜率可以算出,
其单个元胞的电阻为
40000Ω,则对于整
个元胞阵列来说,其
导通电阻约为1Ω。;8.结论及说明;thank you!
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